• DIN IEC 60747-1:1987-03

    Withdrawn A Withdrawn Standard is one, which is removed from sale, and its unique number can no longer be used. The Standard can be withdrawn and not replaced, or it can be withdrawn and replaced by a Standard with a different number.

    SEMICONDUCTOR DEVICES; DISCRETE DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS; GENERAL

    Available format(s): 

    Withdrawn date:  31-10-2004

    Language(s): 

    Published date:  12-01-2013

    Publisher:  German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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    Vorwort
    Einführung
    Kapitel I: Anwendungsbereich und Gliederung der IEC
               747 und 748
    1 IEC 747
       1.1 Anwendungsbereich
       1.2 Gliederung
    2 IEC 748
       2.1 Anwendungsbereich
       2.2 Gliederung
    Kapitel II: Inhalt und Gliederung der IEC 747-1
    1 Inhalt
    2 Gliederung
    Kapitel III: Inhalt und Gliederung der IEC 747-2,
                 747-3, usw
    1 Inhalt
    2 Gliederung
       2.1 Unterteilung in Kapitel
       2.2 Unterteilung in Bauelemente-Untergruppen
    3 Erläuterungen zu den verschiedenen Kapiteln der
       einzelnen Publikationen
       3.1 Kapitel I, Allgemeines
       3.2 Kapitel II, Terminologie und Kurzzeichen
           3.2.1 Inhalt
           3.2.2 Spezielle Begriffe, Definitionen und
                 Kurzzeichen
           3.2.3 Kurzzeichen
       3.3 Kapitel III, Grenz- und Kennwerte
           3.3.1 Inhalt
       3.4 Kapitel IV, Messverfahren
           3.4.1 Inhalt
       3.5 Kapitel V, Annahmeverfahren und Zuverlässigkeit
           3.5.1 Inhalt
    Kapitel IV: Begriffe, Allgemeines
    1 Einleitung
    2 Physikalische Begriffe
    3 Allgemeine Begriffe
    4 Arten von Bauelementen
    5 Begriffe, die mit Grenz- und Kennwerten in
       Verbindung stehen
       5.1 Spannungen
       5.2 Temperaturen
       5.3 Thermische Kennwerte
       5.4 Rauschen
       5.5 Verschiedene Begriffe
    Kapitel V: Kurzzeichen, Allgemeines
    1 Einleitung
    2 Kurzzeichen für Ströme, Spannungen und Leistungen
    3 Kurzzeichen für elektrische Parameter
    4 Kurzzeichen für andere Grössen
    Kapitel VI: Wesentliche Grenz- und Kennwerte,
                Allgemeines
    1 Einleitung
    2 Standardformat für die Angaben im Datenblatt
    3 Grenzwert-Definitionen
    4 Definitionen von Kühlbedingungen
    5 Empfohlene Temperaturen
    6 Empfohlene Spannungen und Ströme
    7 Mechanische Grenzwerte, mechanische Kennwerte
       und weitere Angaben
    8 Festlegung der Anordnung der Anschlüsse auf der
       Bodenfläche
    9 Farbkennzeichnung der Anschlüsse von
       Halbleiterbauelementen
    10 Allgemeine Informationen über
       Mehrfachbauelemente ineinem gemeinsamen Gehäuse
    11 Fertigungsstreuung und Annahmevereinbarung
    12 Gedruckte Verdrahtung und gedruckte Schaltungen
    Kapitel VII: Standard- und Referenzmassnahmen,
                 Allgemeines Hauptabschnitt 1,
                 Standard-Messverfahren
    1 Einleitung
    2 Allgemeine Vorsichtsmassnahmen
       2.1 Schutz von Bauelementen und Messgeräten
       2.2 Messgenauigkeit
       2.3 Definitionen
    Hauptabschnitt 2: Referenzmessverfahren
    1 Leitfaden für Referenzmessverfahren
    2 Thermische Bedingungen für die elektrischen
       Referenzmessverfahren
       2.1 Einleitung
       2.2 Bedingungen im Falle unbedeutender
           Verlustleistung im Bauelement
       2.3 Bedingungen im Falle bedeutender Verlustleistung
           im Bauelement
    Kapitel VIII: Annahmeverfahren und Zuverlässigkeit
                  von Einzel-Halbleiterbauelementen
                  Hauptabschnitt 1, Allgemeines
                  Hauptabschnitt 2, Allgemeine Regeln, In
                  Bearbeitung
                  Hauptabschnitt 3, Elektrische
                  Lebensdauerprüfungen
    1 Zweck und Gliederung
    2 Allgemeine Anforderungen
       2.1 Bedingungen für Lebensdauerprüfungen
       2.2 Dauer der Prüfung
       2.3 Ausfalldefinierende Kennwerte und Messungen
       2.4 Ausfallkriterien
       2.5 Vorsichtsmassnahmen
    3 Spezielle Anforderungen, Allgemeines
       3.1 Liste der Lebensdauerprüfungen
       3.2 Bedingungen für Lebensdauerprüfungen
       3.3 Ausfalldefinierende Kennwerte und
           Annahmekriterien nach Lebensdauerprüfungen
       3.4 Ausfalldefinierende Kennwerte und
           Annahmekriterien für Zuverlässigkeitsprüfungen
       3.5 Verfahren im Falle eines Prüfirrtums
       3.6 Angaben in den Tabellen 1 und 11
    Kapitel IX: Elektrostatisch gefährdete
                Halbleiterbauelemente und Integrierte
                Schaltungen
    1 Handhabungsvorschriften
    2 Warnschild und Warnzeichen
    3 Prüfverfahren (in Vorbereitung)

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    Development Note Supersedes DIN 41785-1, DIN 41785-2, DIN 41852, DIN 41855, DIN 41856, DIN 41863 and DIN 44475 (07/2002) Partially supersedes DIN 41853. (04/2003) DRAFT AMD 1 issued in August 2009 is now cancelled. (12/2011)
    Document Type Standard
    Publisher German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
    Status Withdrawn
    Supersedes

    Standards Referenced By This Book - (Show below) - (Hide below)

    DIN IEC 60286-4:1992-11 PACKAGING OF COMPONENTS FOR AUTOMATIC HANDLING; STICK MAGAZINES FOR DUAL IN LINE PACKAGES
    DIN VDE 0884 : 1987 OPTOCOUPLER FOR PROTECTIVE SEPARATION AGAINST ELECTRIC SHOCK; REQUIREMENTS, TEST
    DIN IEC 60747-2:2001-02 SEMICONDUCTOR DEVICES - DISCRETE DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS - PART 2: RECTIFIER DIODES
    DIN EN 190100:1995-02 SECTIONAL SPECIFICATION: DIGITAL MONOLITHIC INTEGRATED CIRCUITS
    VDE 0884 : 1987 OPTOCOUPLER FOR PROTECTIVE SEPARATION AGAINST ELECTRIC SHOCK, REQUIREMENTS, TESTS
    DIN EN 165000-1:1996-11 FILM AND HYBRID INTEGRATED CIRCUITS - PART 1: GENERIC SPECIFICATION - CAPABILITY APPROVAL PROCEDURE
    DIN IEC 60747-3:1992-04 Semiconductor devices; discrete devices; part 3: signal diodes and regulator diodes; identical with IEC 60747-3:1985
    DIN EN 60749:2002-09 SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS

    Standards Referencing This Book - (Show below) - (Hide below)

    IEC 60134:1961 Rating systems for electronic tubes and valves and analogous semiconductor devices
    IEC 60319:1999 Presentation and specification of reliability data for electronic components
    ISO 3:1973 Preferred numbers Series of preferred numbers
    IEC 60027-1:1992 Letters symbols to be used in electrical technology - Part 1: General
    IEC 60027-3:2002 Letter symbols to be used in electrical technology - Part 3: Logarithmic and related quantities, and their units
    IEC 60027-2:2005 Letter symbols to be used in electrical technology - Part 2: Telecommunications and electronics
    IEC 60027-4:2006 Letter symbols to be used in electrical technology - Part 4: Rotating electric machines
    IEC 60027-2B:1980 Letter symbols to be used in electrical technology - Part 2: Telecommunications and electronics
    IEC 60027-2A:1975 Letter symbols to be used in electrical technology - Part 2: Telecommunications and electronics - First supplement
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