DIN 45921-4;CECC 40400:1989-09
Superseded
A superseded Standard is one, which is fully replaced by another Standard, which is a new edition of the same Standard.
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HARMONIZED SYSTEMS OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS, SECTIONAL SPECIFICATION: FIXED LOW POWER SURFACE MOUNTING (CHIP) RESISTORS
01-05-1997
12-01-2013
Vorbemerkung
Vorwort
HAUPTABSCHNITT 1 - Geltungsbereich
HAUPTABSCHNITT 2 - Bevorzugte Eigenschaften,
Nennwerte und Schärfegrade für Umgebungs- und
Überlastprüfungen
2.1 Eigenschaften
2.1.1 Klimatische Schärfegrade
2.1.2 Temperaturcharakteristiken und
Temperaturkoeffizienten des Widerstandswertes
2.1.3 Grenzwerte für die Änderung des
Widerstandswertes
2.1.4 Grenzwerte für den Isolationswiderstand
2.2 Nennwerte
2.2.1 Nennwiderstandswert
2.2.2 Grenzabweichungen vom Nennwiderstandswert
2.2.3 Nennbelastbarkeit (auf Träger montiert)
2.2.4 Höchste zulässige Dauerspannung
2.3 Schärfegrade für Umgebungs- und Überlastprüfungen
2.3.1 Trocknen
2.3.2 Elektrische Überlastprüfung (auf Träger montiert)
2.4 Lastminderungskurve (auf Träger montiert)
2.5 Angaben, die eine Bauartspezifikation enthalten muss
2.5.1 Bauart und Baugrösse (Masse)
2.5.2 Nennbelastbarkeit
2.5.3 Höchste zulässige Dauerspannung
2.5.4 Widerstandswertebereich
2.5.5 Grenzabweichungen vom Nennwiderstandswert
2.5.6 Klimakategorie
2.5.7 Grenzwert für die Änderung des
Widerstandswertes nach 1000 Stunden Dauerprüfung
2.5.8 Temperaturabhängigkeit des Widerstandswertes
2.5.9 Lastminderungskurve
2.5.10 Kennzeichnung
2.5.11 Bestellangaben
2.5.12 Zusätzliche Angaben (im
Gütebestätigungsverfahren nicht überwacht)
HAUPTABSCHNITT 3 - Kontrollen
3.1 Bilden der Prüflose
3.2 Prüfmethoden
3.3 Bauartzulassung
ANHANG A - Prüfplan mit fester Stichprobengrösse für
die Bauartzulassung von niedrig belastbaren
nichtdrahtgewickelten Festwiderständen für
Oberflächenmontage (Chipwiderständen).
DocumentType |
Standard
|
PublisherName |
German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
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Status |
Superseded
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SupersededBy |
DIN 45921-1019:1992-11 | HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS - DETAIL SPECIFICATION FOR FIXED LOW POWER NON-WIRE-WOUND RESISTORS - CHIP RESISTORS, HIGH STABILITY WITH LOW TEMPERATURE COEFFICIENT ASSESSMENT LEVEL "S", STABILITY CLASS 1 |
DIN 45921-402:1992-09 | HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS; DETAIL SPECIFICATION FOR FIXED LOW POWER NON-WIREWOUND RESISTORS; CHIP RESISTORS, HIGH STABILITY WITH LOW TEMPERATURE COEFFICIENT; ASSESSMENT LEVEL "S", STABILITY CLASS 2 |
DIN 45921-403:1992-09 | HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS - DETAIL SPECIFICATION FOR FIXED LOW POWER NON-WIRE-WOUND RESISTORS - CHIP RESISTORS, CYLINDRICAL, HIGH STABILITY WITH LOW TEMPERATURE COEFFICIENT, ASSESSMENT LEVEL "S" |
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