DIN 45930-1;CECC 50000:1987-06

VORBEMERKUNG
EINLEITUNG
Durchführungsbestimmungen
Abschnitt
Hauptabschnitt 1 - Geltungsbereich
Hauptabschnitt 2 - Allgemeines
2.1 Rangfolge
2.2 Bezugsdokumente
2.3 Masseinheiten, Schalt- und Formelzeichen,
    Begriffe und Definitionen
2.4 Bevorzugte Grenz- und Kennwerte
2.5 Kennzeichnung
    2.5.1 Kennzeichnung der Anschlüsse
    2.5.2 Kennzeichnung der Bauart
    2.5.3 Hersteller- oder Handelsbezeichnung
    2.5.4 Datumcode
2.6 Bestellangaben
Hauptabschnitt 3 - Gütebestätigungsverfahren
3.1 Primäre Fabrikationsstufe und Untervergabe
3.2 Definition eines Fertigungsloses
3.3 Strukturell ähnliche Bauelemente
3.4 Bauartzulassung
3.5 Gütebestätigungskontrollen
    3.5.1 Einteilung nach Gruppen und Untergruppen
    3.5.2 Prüfanforderungen
    3.5.3 Ergänzungsbestimmungen für reduzierte Prüfungen
    3.5.4 Stichproben, entnommen aus kleinen
           Fertigungslosen oder bei teuren Bauelementen
    3.5.5 Bestätigte Prüfberichte
    3.5.6 Auslieferung von Bauelementen nach zerstörenden
           bzw. nicht-zerstörenden Prüfungen
    3.5.7 Verzögerte Auslieferungen
    3.5.8 Zusatz-Auslieferungsbestimmungen
    3.5.9 Nicht-geprüfte Eigenschaften
    3.5.10 Screening
Hauptabschnitt 4 - Prüf- und Messbedingungen
4.1 Grundlegende Prüfbedingungen
4.2 Prüfung des Bauelementäusseren
    4.2.1 Sichtprüfung
    4.2.2 Abmessungen
    4.2.3 Haftfestigkeit der Bezeichnung
4.3 Elektrische Messungen
    4.3.1 Alternativmethoden
    4.3.2 Messunsicherheit
    4.3.3 Messungen bei hoher Temperatur
    4.3.4 Elektrische Messmethoden
4.4 Klimatische und mechanische Prüfungen
    4.4.1 Hochtemperaturlagerung
    4.4.2 Feuchte Wärmeprüfung, Kurzprüfung
    4.4.3 Feuchte Wärmeprüfung, konstant
    4.4.4 Temperaturwechsel
    4.4.5 Schocken
    4.4.6 Schwingen
    4.4.7 Lötbarkeit
    4.4.8 Lötwärmebeständigkeit
    4.4.9 Mechanische Widerstandsfähigkeit der
           Anschlüsse
    4.4.10 Dichtheit
    4.4.11 Gleichförmige Beschleunigung
4.5 Elektrische Dauerprüfungen
    4.5.1 Allgemeines
    4.5.2 Übliche Verfahren
    4.5.3 Geraffte Prüfungen
Anhang:
I - Strukturell ähnliche Bauelemente
II A - Allgemeine Prüfbedingungen für Transistoren
       und Dioden (ausschliesslich Gleichrichterdioden)
II B - Allgemeine Prüfbedingungen für
       Gleichrichterdioden und Thyristoren
III - Tabellen der Abmessungen, die in den
       Gruppen B und C geprüft werden
IV - Richtungen der bei mechanischen Prüfungen
       angreifenden Kräfte
V - Beschreibung elektrischer Messungen, die keine
       IEC-Verfahren sind
VI - Sortierprüfung