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DIN 51096:2008-07
Superseded
A superseded Standard is one, which is fully replaced by another Standard, which is a new edition of the same Standard.
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TESTING OF CERAMIC RAW AND BASIC MATERIALS - DIRECT DETERMINATION OF MASS FRACTIONS OF IMPURITIES IN POWDERS AND GRANULES OF SILICON CARBIDE BY INDUCTIVELY COUPLED PLASMA OPTICAL EMISSION SPECTROMETRY (ICP OES) AND ELECTROTHERMAL VAPORISATION (ETV)
01-04-2011
12-01-2013
Vorwort
1 Anwendungsbereich
2 Normative Verweisungen
3 Kurzbeschreibung
4 Grundlagen
5 Geräte
6 Reagenzien und Hilfsmittel
7 Probenahme und Probenvorbereitung
8 Kalibrierung
9 Durchführung
10 Wellenlängen und Arbeitsbereich
11 Berechnung der Ergebnisse und Auswertung
12 Angabe der Ergebnisse
13 Präzision
13.1 Wiederholpräzision
13.2 Vergleichpräzision
14 Prüfbericht
Anhang A (informativ) Ergebnisse des Ringversuches
Anhang B (informativ) Wellenlängen und Arbeitsbereich
Anhang C (informativ) Mögliche Störungen und
ihre Beseitigung
Anhang D (informativ) Hinweise zur Ermittlung der
Unsicherheit des Mittelwertes
Anhang E (informativ) Handelsübliche zertifizierte
Referenzmaterialien
Anhang F (informativ) Hinweise zur Validierung eines auf
der Kalibrierung mit wässrigen
Lösungen basierenden Analysenverfahrens
am Beispiel von SiC und Graphit
Literaturhinweise
Bilder
Tabellen
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