DIN 51096:2008-07

Vorwort
1 Anwendungsbereich
2 Normative Verweisungen
3 Kurzbeschreibung
4 Grundlagen
5 Geräte
6 Reagenzien und Hilfsmittel
7 Probenahme und Probenvorbereitung
8 Kalibrierung
9 Durchführung
10 Wellenlängen und Arbeitsbereich
11 Berechnung der Ergebnisse und Auswertung
12 Angabe der Ergebnisse
13 Präzision
   13.1 Wiederholpräzision
   13.2 Vergleichpräzision
14 Prüfbericht
Anhang A (informativ) Ergebnisse des Ringversuches
Anhang B (informativ) Wellenlängen und Arbeitsbereich
Anhang C (informativ) Mögliche Störungen und
                      ihre Beseitigung
Anhang D (informativ) Hinweise zur Ermittlung der
                      Unsicherheit des Mittelwertes
Anhang E (informativ) Handelsübliche zertifizierte
                      Referenzmaterialien
Anhang F (informativ) Hinweise zur Validierung eines auf
                      der Kalibrierung mit wässrigen
                      Lösungen basierenden Analysenverfahrens
                      am Beispiel von SiC und Graphit
Literaturhinweise
Bilder
Tabellen

Dieses Dokument legt ein Verfahren zur Bestimmung der Massenanteile der Verunreinigungen Al, Ca, Cr, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, V und Zr in pulver- und kornförmigem Siliciumcarbid fest. Das Verfahren gilt, in Abhängigkeit von den Haupteinflussgrössen Element, Wellenlänge, Plasmabedingungen und Einwaage, für Massenanteile der o. g. Verunreinigungen von etwa 0,1 mg/kg bis etwa 1000 mg/kg, nach Prüfung auch von 0,001 mg/kg bis etwa 5000 mg/kg.