DIN EN 15305:2009-01
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Non-destructive testing - Test method for residual stress analysis by X-ray diffraction
Hardcopy , PDF
01-01-2009
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Vorwort
Einleitung
1 Anwendungsbereich
2 Normative Verweisungen
3 Begriffe, Definitionen und Symbole
3.1 Begriffe und Definitionen
3.2 Symbole und Abkürzungen
4 Grundlagen
4.1 Allgemeine Messgrundlagen
4.2 Biaxiale Spannungsanalyse
4.3 Triaxiale Spannungsanalyse
5 Proben
5.1 Materialkenngrössen
5.2 Vorbereitung der Proben
6 Prüfeinrichtung
6.1 Allgemeines
6.2 Auswahl der Prüfeinrichtung
6.3 Auswahl der Strahlung
6.4 Auswahl des Detektors
6.5 Leistung der Prüfeinrichtung
6.6 Qualifizierung (Prüfung der Eignung) und
Verifizierung der Prüfeinrichtung
7 Experimentelles Verfahren
7.1 Allgemeines
7.2 Positionierung der Probe
7.3 Beugungsbedingungen
7.4 Datenerfassung
8 Datenverarbeitung
8.1 Allgemeines
8.2 Verarbeitung der Beugungsdaten
8.3 Spannungsberechnung
8.4 Kritische Bewertung der Ergebnisse
9 Prüfbericht
10 Experimentelle Bestimmung der XECs
10.1 Einleitung
10.2 Belastungseinrichtung
10.3 Probe
10.4 Kalibrierung der Belastungseinrichtung
und der Aufnahme für die Probe
10.5 Diffraktometermessungen
10.6 Berechnung der XECs
11 Referenzproben
11.1 Einleitung
11.2 Spannungsfreie Referenzprobe
11.3 Spannungsbeaufschlagte Referenzprobe
12 Grenzfälle
12.1 Einleitung
12.2 Vorhandensein eines Spannungsgradienten
unterhalb der Oberfläche
12.3 Spannungsgradient in der Oberfläche
12.4 Oberflächenrauheit
12.5 Nicht ebene Oberflächen
12.6 Einflüsse der Mikrostruktur der Probe
12.7 Breite Beugungslinien
Anhang A (informativ) Schematische Darstellung
des Europäischen XRPD-Normungsprojektes
Anhang B (informativ) Ursachen für Eigenspannungen
B.1 Allgemeines
B.2 Mechanische Prozesse
B.3 Thermische Prozesse
B.4 Chemische Prozesse
Anhang C (normativ) Bestimmung des Spannungszustands
- Allgemeines Verfahren
C.1 Allgemeines
C.2 Anwendung der exakten Verformungsdefinition
C.3 Anwendung einer Näherung für die
Verformungsdefinition
Anhang D (informativ) Neueste Entwicklungen
D.1 Spannungsmessung unter Anwendung
zweidimensionaler Beugungsdaten
D.2 Bewertung der Eigenspannung im Oberflächenbereich
mit Tiefenauflösung - Das Vektor-Streuverfahren
D.3 Genauigkeitsverbesserung durch Anwendung von
Gleichgewichtsbedingungen zur
Bestimmung des Spannungsprofils
Anhang E (informativ) Einzelheiten zur Behandlung
der Messdaten
E.1 Korrektur der gemessenen Intensität
E.2 Bestimmung der Beugungslinienposition
E.3 Korrektur für die Beugungslinienposition
Anhang F (informativ) Allgemeine Beschreibung der
Messverfahren
F.1 Einleitung
F.2 Festlegungen
F.3 Beschreibung der verschiedenen Messverfahren
F.4 Auswahl der Winkel [phi] und [psi]
F.5 Stereographische Projektion
Anhang G (informativ) 'Normales Spannungsmessverfahren
'und'dediziertes Spannungsmessverfahren'
G.1 Einleitung
G.2 Allgemeines
Literaturhinweise
Defines the test method for the determination of macroscopic residual or applied stresses non-destructively by X-ray diffraction analysis in the near-surface region of a polycrystalline specimen or component.
| DocumentType |
Standard
|
| Pages |
88
|
| PublisherName |
German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
|
| Status |
Current
|
| ISO 5725-1:1994 | Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results — Part 1: General principles and definitions |
| DIN ISO 5725-2:2002-12 | Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results - Part 2: Basic method for the determination of repeatability and reproducibility of a standard measurement method (ISO 5725-2:1994 including Technical Corrigendum 1:2002) |
| ASTM E 915 : 2016 : REDLINE | Standard Test Method for Verifying the Alignment of X-Ray Diffraction Instrumentation for Residual Stress Measurement |
| ASTM E 1426 : 2014 : REDLINE | Standard Test Method for Determining the X-Ray Elastic Constants for Use in the Measurement of Residual Stress Using X-Ray Diffraction Techniques |
| DIN ISO 5725-1:1997-11 | Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results - Part 1: General principles and definitions (ISO 5725-1:1994) |
| ISO/TR 25107:2006 | Non-destructive testing Guidelines for NDT training syllabuses |
| EN 13925-1:2003 | Non-destructive testing - X-ray diffraction from polycrystalline and amorphous material - Part 1: General principles |
| ISO 5725-2:1994 | Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results Part 2: Basic method for the determination of repeatability and reproducibility of a standard measurement method |
| CEN ISO/TR 25107:2006 | Non-destructive testing - Guidelines for NDT training syllabuses (ISO/TR 25107:2006) |
| EN 13925-2:2003 | Non-destructive testing - X-ray diffraction from polycrystalline and amorphous materials - Part 2: Procedures |
| EN 13925-3:2005 | Non destructive testing - X ray diffraction from polycrystalline and amorphous materials - Part 3: Instruments |
| EN 1330-11:2007 | Non-destructive testing - Terminology - Terms used in X-ray diffraction from polycrystalline and amorphous materials |
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