Vorwort
Einleitung
1 Anwendungsbereich
2 Normative Verweisungen
3 Begriffe, Definitionen und Symbole
3.1 Begriffe und Definitionen
3.2 Symbole und Abkürzungen
4 Grundlagen
4.1 Allgemeine Messgrundlagen
4.2 Biaxiale Spannungsanalyse
4.3 Triaxiale Spannungsanalyse
5 Proben
5.1 Materialkenngrössen
5.2 Vorbereitung der Proben
6 Prüfeinrichtung
6.1 Allgemeines
6.2 Auswahl der Prüfeinrichtung
6.3 Auswahl der Strahlung
6.4 Auswahl des Detektors
6.5 Leistung der Prüfeinrichtung
6.6 Qualifizierung (Prüfung der Eignung) und
Verifizierung der Prüfeinrichtung
7 Experimentelles Verfahren
7.1 Allgemeines
7.2 Positionierung der Probe
7.3 Beugungsbedingungen
7.4 Datenerfassung
8 Datenverarbeitung
8.1 Allgemeines
8.2 Verarbeitung der Beugungsdaten
8.3 Spannungsberechnung
8.4 Kritische Bewertung der Ergebnisse
9 Prüfbericht
10 Experimentelle Bestimmung der XECs
10.1 Einleitung
10.2 Belastungseinrichtung
10.3 Probe
10.4 Kalibrierung der Belastungseinrichtung
und der Aufnahme für die Probe
10.5 Diffraktometermessungen
10.6 Berechnung der XECs
11 Referenzproben
11.1 Einleitung
11.2 Spannungsfreie Referenzprobe
11.3 Spannungsbeaufschlagte Referenzprobe
12 Grenzfälle
12.1 Einleitung
12.2 Vorhandensein eines Spannungsgradienten
unterhalb der Oberfläche
12.3 Spannungsgradient in der Oberfläche
12.4 Oberflächenrauheit
12.5 Nicht ebene Oberflächen
12.6 Einflüsse der Mikrostruktur der Probe
12.7 Breite Beugungslinien
Anhang A (informativ) Schematische Darstellung
des Europäischen XRPD-Normungsprojektes
Anhang B (informativ) Ursachen für Eigenspannungen
B.1 Allgemeines
B.2 Mechanische Prozesse
B.3 Thermische Prozesse
B.4 Chemische Prozesse
Anhang C (normativ) Bestimmung des Spannungszustands
- Allgemeines Verfahren
C.1 Allgemeines
C.2 Anwendung der exakten Verformungsdefinition
C.3 Anwendung einer Näherung für die
Verformungsdefinition
Anhang D (informativ) Neueste Entwicklungen
D.1 Spannungsmessung unter Anwendung
zweidimensionaler Beugungsdaten
D.2 Bewertung der Eigenspannung im Oberflächenbereich
mit Tiefenauflösung - Das Vektor-Streuverfahren
D.3 Genauigkeitsverbesserung durch Anwendung von
Gleichgewichtsbedingungen zur
Bestimmung des Spannungsprofils
Anhang E (informativ) Einzelheiten zur Behandlung
der Messdaten
E.1 Korrektur der gemessenen Intensität
E.2 Bestimmung der Beugungslinienposition
E.3 Korrektur für die Beugungslinienposition
Anhang F (informativ) Allgemeine Beschreibung der
Messverfahren
F.1 Einleitung
F.2 Festlegungen
F.3 Beschreibung der verschiedenen Messverfahren
F.4 Auswahl der Winkel [phi] und [psi]
F.5 Stereographische Projektion
Anhang G (informativ) 'Normales Spannungsmessverfahren
'und'dediziertes Spannungsmessverfahren'
G.1 Einleitung
G.2 Allgemeines
Literaturhinweise