DIN EN 60444-3:1997-10

1 Anwendungsbereich
2 C[0]-Kompensationsschaltung
  2.1 Elektrische Angaben
  2.2 Mechanische Angaben
3 Schwingquarz-Parameter mit und ohne
  C[0]-Kompensation
  3.1 Serienresonanzfrequenz f[s] und
      Resonanzfrequenz f[r]
  3.2 Dynamischer Widerstand R[1] und
      Resonanzwiderstand R[r]
  3.3 Dynamische Kapazität C[1] und dynamische
      Induktivität L[1]
4 Messschaltung
  4.1 Das [pi]-Netzwerk
  4.2 Zubehör zu dem [pi]-Netzwerk
  4.3 Benötigte Messgeräte
  4.4 Kompensationsschaltung
5 Messverfahren
  5.1 Grundkalibrierung des [pi]-Netzwerkes
  5.2 Abgleich der Kompensationsschaltung
  5.3 Messung von Frequenz und Widerstand
  5.4 Berechnung der dynamischen Kapazität C[1]
      und der dynamischen Induktivität L[1]
Anhang A Analyse der Abweichungen von f, R, C[1]
         und L[1] durch die verschiedenen Messverfahren
         mit und ohne Kompensation von C[0]
Anhang B Zusätzliche Informationen über die
         Messgenauigkeit
Anhang C Zusätzliche Informationen über die
         Schaltungselemente, die in den Bildern 4a)
         und 4 b) angegeben sind

Defines a method for measuring the parameters of quartz crystal units by means of an inductance for compensation for the effects of Co at the frequency of the crystal unit, with accuracy dependent on the type of crystals for frequency with a fractional accuracy ranging between 10-6 and 10-8, 2% and 5% and motional capacitance and inductance with a fractional accuracy between 3% and 7%.