DIN EN 60749-38:2008-10
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SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 38: SOFT ERROR TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICES WITH MEMORY
Available format(s)
Hardcopy , PDF
Language(s)
German
Published date
01-01-2008
Important note : Users cannot be edited or removed once added to your Multi user PDF.In diesem Teil der DIN EN 60749 ist ein Verfahren zur Messung der Fähigkeit des Datenerhalts von Halbleiterbauelementen mit Speichern festgelegt, wenn diese Bauelemente einer Beanspruchung mit hochenergetischen Teilchen wie der Alpha-Strahlung ausgesetzt sind.
| DevelopmentNote |
Supersedes DIN IEC 60749-38. (10/2008)
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| DocumentType |
Standard
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| Pages |
14
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| PublisherName |
German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
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| Status |
Current
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| Supersedes |
| Standards | Relationship |
| IEC 60749-38:2008 | Identical |
| EN 60749-38:2008 | Identical |
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