NF EN 1071-10 : 2009

Avant-propos
Introduction
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Principe
5 Appareillage
   5.1 Microscope électronique à balayage (MEB)
   5.2 Microscope optique
6 Préparation des échantillons
   6.1 Préparation de la section transversale
   6.2 Rugosité de surface
   6.3 Réduction de la section transversale
   6.4 Inclinaison de l'échantillon
   6.5 Détérioration du revêtement
   6.6 Arrondissement des bords du revêtement
   6.7 Excédent de placage
   6.8 Décapage
   6.9 Marbrures
7 Étalonnage des instruments
   7.1 Mode opératoire
   7.2 Photographie
   7.3 Mesurage
   7.4 Calcul du grossissement
   7.5 Contraste faible
   7.6 Grossissement
   7.7 Uniformité du grossissement
   7.8 Stabilité du grossissement
8 Mode opératoire d'essai
   8.1 Généralités
   8.2 Préparation des images
   8.3 Mesurage
   8.4 Calcul de l'épaisseur
   8.5 Modes opératoires de correction
9 Incertitude de mesure
10 Expression des résultats
11 Rapport
Annexe A (informative) - Indications générales sur
         la préparation et le mesurage des sections
         transversales
Bibliographie

Le présent document définit une méthode de mesurage de l'épaisseur des revêtements céramiques qui comprend l'examen au microscope optique ou électronique à balayage étalonné d'une section transversale du revêtement ayant fait l'objet d'une préparation métallographique. Il est largement inspiré du document EN ISO 9220 (8), mais a été modifié et mis à jour conformément aux exigences pour être adapté aux revêtements céramiques et aux bonnes pratiques actuelles.