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NF EN 13925-1 : 2003

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NON-DESTRUCTIVE TESTING - X-RAY DIFFRACTION FROM POLYCRYSTALLINE AND AMORPHOUS MATERIAL - PART 1: GENERAL PRINCIPLES

Published date

12-01-2013

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Avant-propos
Introduction
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Principes généraux de la diffraction des rayons X par les
  poudres (DRXP)
5 Signification du terme "poudre" pour la diffraction des
  rayons X
6 Caractéristiques du profil des raies de diffraction
7 Types d'analyse
  7.1 Généralités
  7.2 Identification de phases (également appelée "analyse
       qualitative de phase")
  7.3 Analyse quantitative de phases
  7.4 Estimation des fractions cristalline et amorphe d'un
       matériau
  7.5 Détermination de paramètres de maille
  7.6 Détermination de structure
  7.7 Affinement de structures
  7.8 Caractérisation de la texture cristallographique
  7.9 Analyse des macrocontraintes
  7.10 Détermination de la taille des cristallites et des
       microcontraintes
  7.11 Fonction de distribution électronique radiale (DER)
8 Environnement particulier de l'échantillon
Annexe A (informative) Relations entre les normes relatives
                       à la DRXP
Bibliographie

Specifies the general principles of X-ray diffraction from polycrystalline and amorphous materials.

DevelopmentNote
Indice de Classement: A09-280-1. PR NF EN 13925-1 August 2000. (10/2003)
DocumentType
Standard
PublisherName
Association Francaise de Normalisation
Status
Current

Standards Relationship
UNI EN 13925-1 : 2006 Identical
EN 13925-1:2003 Identical
DIN EN 13925-1:2003-07 Identical
BS EN 13925-1:2003 Identical
UNE-EN 13925-1:2006 Identical

NF EN 15305 : 2009 NON-DESTRUCTIVE TESTING - TEST METHOD FOR RESIDUAL STRESS ANALYSIS BY X-RAY DIFFRACTION

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