NF EN 13925-1 : 2003
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NON-DESTRUCTIVE TESTING - X-RAY DIFFRACTION FROM POLYCRYSTALLINE AND AMORPHOUS MATERIAL - PART 1: GENERAL PRINCIPLES
12-01-2013
Avant-propos
Introduction
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Principes généraux de la diffraction des rayons X par les
poudres (DRXP)
5 Signification du terme "poudre" pour la diffraction des
rayons X
6 Caractéristiques du profil des raies de diffraction
7 Types d'analyse
7.1 Généralités
7.2 Identification de phases (également appelée "analyse
qualitative de phase")
7.3 Analyse quantitative de phases
7.4 Estimation des fractions cristalline et amorphe d'un
matériau
7.5 Détermination de paramètres de maille
7.6 Détermination de structure
7.7 Affinement de structures
7.8 Caractérisation de la texture cristallographique
7.9 Analyse des macrocontraintes
7.10 Détermination de la taille des cristallites et des
microcontraintes
7.11 Fonction de distribution électronique radiale (DER)
8 Environnement particulier de l'échantillon
Annexe A (informative) Relations entre les normes relatives
à la DRXP
Bibliographie
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