NF EN 13925-2 : 2003

Avant-propos
Introduction
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Préparation des échantillons
  4.1 Préparation générale
  4.2 Échantillons en blocs
  4.3 Échantillons en poudre
  4.4 Analyse de faibles quantités d'échantillon
  4.5 Échantillons réactifs et conditions non ambiantes
5 Acquisition des données
  5.1 Considérations générales
  5.2 Plage angulaire et mode d'acquisition des données
  5.3 Paramètres relatifs à la qualité des données acquises
6 Traitement et analyse des données
  6.1 Fond
  6.2 Recherche de pics
  6.3 Décomposition du diagramme en profils de raies
      individuels comprenant la soustraction du fond
  6.4 Identification des phases
  6.5 Indexation
  6.6 Affinement des paramètres de maille
  6.7 Autres types d'analyse
Annexe A (informative) Relations entre les normes relatives
                       â la DRXP
Annexe B (informative) Exemple de formulaire de rapport
Annexe C (informative) Schéma d'une procédure type de
                       mesurages DRXP
Annexe D (informative) Quelques fonctions analytiques
                       utilisées pour l'ajustement du profil
Annexe E (informative) Quelques méthodes de test de la
                       cohérence interne des données DRXP
Bibliographie

Describes the basic procedures applied in the X-ray Powder Diffraction (XRPD) method.