NF EN 60444-3 : 2001
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MEASUREMENT OF QUARTZ CRYSTAL UNIT PARAMETERS BY ZERO PHASE TECHNIQUE IN A PI-NETWORK - PART 3: BASIC METHOD FOR THE MEASUREMENT OF TWO-TERMINAL PARAMETERS OF QUARTZ CRYSTAL UNITS UP TO 200 MHZ BY PHASE TECHNIQUE IN A PI-NETWORK WITH COMPENSATION OF THE PARALLEL CAPACITANCE CO
12-01-2013
Avant-propos
1 Domaine d'application
2 Circuit de compensation de C0
2.1 Caractéristiques électriques
2.2 Caractéristiques mécaniques
3 Paramètres des résonateurs a quartz avec
et sans compensation de C0
3.1 Fréquence de résonance série fs et fréquence
de résonance fr
3.2 Résistance dynamique RI et résistance de
résonance Rr
3.3 Capacité dynamique Cl et inductance dynamique L1
4 Circuit d'essai
4.1 Circuit en n
4.2 Accessoires du circuit en n
4.3 Appareils de mesure associés
4.4 Circuit de compensation
5 Méthode de mesure
5.1 Etalonnage initial du circuit en n
5.2 Ajustage du circuit de compensation
5.3 Mesures de la fréquence et de la résistance
5.4 Calcul de la capacité dynamique Cl et de
l'inductance dynamique L1
Annexe A - Analyse de la différence de f, r, cl et Il
comme résultat des méthodes de mesure avec
et sans compensation de C0
Annexe B - Informations supplémentaires relatives a la
précision
Annexe C - Informations supplémentaires relatives aux
composants du circuit donnés dans les
figures 4a) et 4b)
Defines a method for measuring the parameters of quartz crystal units by means of an inductance for compensation for the effects of Co at the frequency of the crystal unit, with accuracy dependent on the type of crystals for frequency with a fractional accuracy ranging between 10-6 and 10-8, 2% and 5% and motional capacitance and inductance with a fractional accuracy between 3% and 7%.
DevelopmentNote |
Indice de classement: C93-623. (09/2002)
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DocumentType |
Standard
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PublisherName |
Association Francaise de Normalisation
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Status |
Current
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Standards | Relationship |
BS EN 60444-3:1997 | Identical |
EN 60444-3:1997 | Identical |
I.S. EN 60444-3:1999 | Identical |
DIN EN 60444-3:1997-10 | Identical |
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