NF EN 60512-25-3 : 2002
Current
The latest, up-to-date edition.
CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT - TESTS AND MEASUREMENT - PART 25-3: TEST 25C: RISE TIME DEGRADATION
12-01-2013
AVANT-PROPOS
1 Généralités
1.1 Domaine d'application et objet
1.2 Définitions
2 Moyens d'essai
2.1 Equipement
2.2 Montage
3 Echantillon d'essai
3.1 Description
4 Procédure d'essai
4.1 Technique d'insertion
4.2 Technique du montage de référence
4.3 Calcul de la dégradation du temps de montée
5 Détails à spécifier
6 Documentation d'essai
Annexe A (normative) Diagrammes et schémas pour les montages
et l'équipement
Annexe B (informative) Guide pratique
Figure 1 - Forme d'onde
Figure A.1 - Diagrammes techniques
Figure A.2 - Adaptations asymétriques
Figure A.3 - Adaptations différentielles (symétriques)
Specifies a method for measuring the effect a specimen has on the rise time of a signal passing through it.
| DevelopmentNote |
Indice de classement: C93-400-25-3 (07/2002)
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| DocumentType |
Standard
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| PublisherName |
Association Francaise de Normalisation
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| Status |
Current
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| Standards | Relationship |
| DIN EN 60512-25-3:2002-08 | Identical |
| BS EN 60512-25-3:2001 | Identical |
| EN 60512-25-3:2001 | Identical |
| I.S. EN 60512-25-3:2001 | Identical |
| UNE-EN 60512-25-3:2002 | Identical |
| IEC 60512-25-3:2001 | Identical |
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