NF EN 60749-2 : 2002

La présente partie de la CEI 60749 décrit l'essai de basse pression atmosphérique appliqué aux dispositifs à semi-conducteurs. L'essai est essentiellement destiné à déterminer la capacité des éléments et des matériaux des composants à éviter les claquages provoqués par la rigidité diélectrique amoindrie de l'air et des autres matériaux isolants à des pressions réduites. Cet essai n'est applicable qu'aux dispositifs dont la tension de fonctionnement dépasse 1 000 V. Cet essai est applicable à tous les dispositifs à semi-conducteurs qui sont installés dans des boîtiers pourvus de cavités internes. Cet essai est uniquement destiné aux applications militaires et spatiales. Cet essai de basse pression atmosphérique est, en général, conforme à la CEI 60068-2-13, mais en raison d'exigences spécifiques aux semi-conducteurs, les articles de la présente norme s'appliquent.