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NF EN 60749-27 : 2006 AMD 1 2013

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SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 27: ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSIVITY TESTING - MACHINE MODEL (MM)

Published date

12-01-2013

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AVANT-PROPOS
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Appareillage
   4.1 Générateur de forme de DES du MM
   4.2 Appareil de vérification de la forme d'onde
5 Exigences de forme d'onde de courant du MM
   5.1 Généralités
   5.2 Qualification et vérification de la forme d'onde
6 Considérations relatives à l'évaluation spécifique
   des dispositifs
   6.1 Taille de l'échantillon et conditions d'essai
   6.2 Broche du cas le plus défavorable ou carte de
       qualification standard
7 Procédure de classification
   7.1 Exigence pour les dispositifs
   7.2 Sélection des dispositifs
   7.3 Caractérisation des dispositifs
   7.4 Niveaux de contrainte des dispositifs
   7.5 Combinaisons de broches
   7.6 Ordre des essais
8 Critères de défaillance
9 Critères de classification
10 Résumé
Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres
          publications internationales avec les publications
          européennes correspondantes

Describes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD).

DevelopmentNote
Indice de classement: C96-022-27 PR NF EN 60749-27 April 2005 (04/2005)
DocumentType
Standard
PublisherName
Association Francaise de Normalisation
Status
Current

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