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NF EN 60749-27 : 2006 AMD 1 2013
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SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 27: ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSIVITY TESTING - MACHINE MODEL (MM)
12-01-2013
AVANT-PROPOS
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Appareillage
4.1 Générateur de forme de DES du MM
4.2 Appareil de vérification de la forme d'onde
5 Exigences de forme d'onde de courant du MM
5.1 Généralités
5.2 Qualification et vérification de la forme d'onde
6 Considérations relatives à l'évaluation spécifique
des dispositifs
6.1 Taille de l'échantillon et conditions d'essai
6.2 Broche du cas le plus défavorable ou carte de
qualification standard
7 Procédure de classification
7.1 Exigence pour les dispositifs
7.2 Sélection des dispositifs
7.3 Caractérisation des dispositifs
7.4 Niveaux de contrainte des dispositifs
7.5 Combinaisons de broches
7.6 Ordre des essais
8 Critères de défaillance
9 Critères de classification
10 Résumé
Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres
publications internationales avec les publications
européennes correspondantes
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