NF EN 60749-9 : 2002

La présente partie de la CEI 60749 a pour objet de vérifier que les marquages sur les dispositifs à semi-conducteurs ne deviendront pas illisibles lorsqu'ils seront soumis aux solvants ou aux solutions de nettoyage normalement utilisés pour éliminer les résidus de flux de soudage produits pendant l'assemblage des cartes à circuits imprimés. Cet essai est applicable à tous les types de boîtiers. Il convient pour les essais de qualification et/ou de controle de procédé. Il y a lieu de considérer cet essai comme non destructif. Les rejets électriques ou mécaniques peuvent être utilisés pour les besoins de cet essai. Cet essai de permanence du marquage est, en général, conforme à la CEI 60068-2-45, mais en raison d'exigences spécifiques aux semi-conducteurs, les articles de la présente norme s'appliquent. NOTE 1: Cette procédure ne s'applique pas aux boîtiers marqués au laser. Beaucoup de solvants disponibles sont soit insuffisamment actifs, soit trop puissants, voire même dangereux pour les personnes en cas de contact direct ou lorsque des vapeurs sont inhalées. NOTE 2: La composition des solvants utilisés dans cette norme est considérée comme typique et représentative de la résistance désirée pour les revêtements et marquages habituels.