NF EN 61163-1 : 2007
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RELIABILITY STRESS SCREENING - PART 1: REPAIRABLE ASSEMBLIES MANUFACTURED IN LOTS
12-01-2013
AVANT-PROPOS
INTRODUCTION
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Symboles
5 Description générale
5.1 Principe du déverminage sous contraintes
5.2 Catégories de défaillances
5.3 Temps d'apparition des défaillances
6 Préparation
6.1 Détermination des conditions de contrainte
6.2 Evaluation de la période sans défaillance TM
6.3 Graphiques des durées de détermination de la
période sans défaillance
7 Déverminage de production de présérie
7.1 Généralités
7.2 Collecte des informations
7.3 Evaluation des informations
7.4 Nouvelle estimation de la période sans défaillance
TM
8 Déverminage d'une production stabilisée
8.1 Généralités
8.2 Collecte des informations
8.3 Evaluation des informations
8.4 Traitement des anomalies
8.5 Suppression du déverminage sous contraintes
Annexe A (informative) Conditions des contraintes -
Généralités
Annexe B (informative) Conditions de contraintes -
Température
Annexe C (informative) Conditions de contraintes -
Vibrations et secousses
Annexe D (informative) Conditions de contraintes -
Humidité
Annexe E (informative) Conditions de contraintes -
Contraintes de fonctionnement
Annexe F (informative) Contrainte de tension
Annexe G (informative) Déverminage à forte accélération
Annexe H (informative) Distributions bimodales - Relevés
expérimentaux sur graphe de Weibull et analyses
Annexe I (informative) Evaluation de la durée de la
période sans défaillance et de la durée
moyenne du déverminage
Annexe J (informative) Démonstration de la méthode par
un exemple
Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres
publications internationales avec les
publications européennes correspondantes
Bibliographie
Describes particular methods to apply and optimize reliability stress screening processes for lots of repairable hardware assemblies, in cases where the assemblies have an unacceptably low reliability in the early failure period, and when other methods, such as reliability growth programmes and quality control techniques, are not applicable.
DevelopmentNote |
Indice de classement: C20-301-1 PR NF EN 61163-1 March 2004 (03/2004)
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DocumentType |
Standard
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PublisherName |
Association Francaise de Normalisation
|
Status |
Current
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Standards | Relationship |
DIN EN 61163-1:2007-06 | Identical |
BS EN 61163-1:2006 | Identical |
EN 61163-1 : 2006 | Identical |
IEC 61163-1:2006 | Identical |
I.S. EN 61163-1:2006 | Identical |
NF EN 62429 : 2008 | RELIABILITY GROWTH - STRESS TESTING FOR EARLY FAILURES IN UNIQUE COMPLEX SYSTEMS |
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