Cette partie de la CEI 62132 fournit des informations générales et des définitions sur la mesure de l'immunité électromagnétique conduite et rayonnée des circuits intégrés (CI) aux perturbations conduites et rayonnées. Elle fournit également une description des conditions de mesure, de l'équipement d'essai et du montage d'essai ainsi que les méthodes d'essai et le contenu des rapports d'essai. Un tableau de comparaison des méthodes d'essai est compris dans l'Annexe A pour aider à la sélection de la ou des méthodes de mesure appropriées. L'objet de cette norme est de décrire les conditions générales prescrites pour obtenir une mesure quantitative d'immunité des CI dans un environnement d'essais uniforme. Les paramètres critiques qui sont prévus pour influencer les résultats d'essai sont décrits. Les divergences par rapport à la présente norme sont notées explicitement dans le rapport d'essai individuel. Les résultats de mesure peuvent être utilisés en vue de comparaisons ou à d'autres fins. La mesure des tensions et courants injectés, ainsi que les réponses des CI essayés aux conditions controlées, fournissent des informations sur l'immunité potentielle du CI aux perturbations RF conduites et rayonnées dans une application donnée.