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NF EN 623-5 : 2009

NF EN 623-5 : 2009

Superseded

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A superseded Standard is one, which is fully replaced by another Standard, which is a new edition of the same Standard.

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A superseded Standard is one, which is fully replaced by another Standard, which is a new edition of the same Standard.

ADVANCED TECHNICAL CERAMICS - MONOLITHIC CERAMICS - GENERAL AND TEXTURAL PROPERTIES - PART 5: DETERMINATION OF PHASE VOLUME FRACTION BY EVALUATION OF MICROGRAPHS

Superseded date

01-06-2016

Published date

12-01-2013

Publisher

Association Francaise de Normalisation

Avant-propos
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Appareillage
   4.1 Matériel de coupe
   4.2 Matériel de montage
   4.3 Matériel de rectification et de polissage
   4.4 Microscope
   4.5 Grille transparente
5 Préparation de l'éprouvette
   5.1 Échantillonnage
   5.2 Coupe
   5.3 Montage
   5.4 Rectification et polissage
   5.5 Décapage
6 Photomicrographie
   6.1 Aspects généraux
   6.2 Controle
   6.3 Nombre de microphotographies
   6.4 Microscope optique
   6.5 Microscopie électronique à balayage (MEB)
7 Mesurage des microphotographies
8 Calcul des résultats
9 Interférences et incertitudes
10 Rapport d'essai
Annexe A (informative) - Modes opératoires de rectification
         et de polissage
Annexe B (informative) - Modes opératoires de décapage
Annexe C (informative) - Utilisation d'une analyse d'images
         automatique (AIA)
   C.1 Contexte
   C.2 Techniques d'analyse
   C.3 Exigences des microphotographies
   C.4 Étalonnage
Annexe D (informative) - Installation de l'éclairage de Köhler
         dans un microscope optique
   D.1 Objet
   D.2 Définition
   D.3 Installation de l'éclairage de Köhler
Annexe E (informative) - Vérification interlaboratoire du
         mode opératoire
Annexe F (informative) - Feuille de résultats
Bibliographie

La présente partie de l'EN 623 spécifie une méthode manuelle de mesurage permettant de déterminer la fraction volumique des principales phases dans les céramiques techniques avancées à l'aide de microphotographies de parties polies et décapées, en recouvrant une grille carrée de lignes, et en comptant le nombre d'intersections se trouvant sur chaque phase. La méthode s'applique aux céramiques avec une ou plusieurs phases secondaires distinctes, telles que dans AI[2]O[3]/ZrO[2], Si/SiC, ou dans AI[2]O[3]/SiCw. Si le matériau d'essai contient des pores discrets, ceux-ci peuvent être traités en tant que phase secondaire pour les besoins de la présente méthode sous réserve qu'il n'y ait pas de preuve d'arrachage de grain au cours du polissage pouvant être confondu avec les pores réels.

DevelopmentNote
Indice de classement: B41-202-5. PR NF EN 623-5 April 2009. (04/2009)
DocumentType
Standard
PublisherName
Association Francaise de Normalisation
Status
Superseded
SupersededBy

Standards Relationship
EN 623-5:2009 Identical

EN 1006:2009 Advanced technical ceramics - Monolithic ceramics - Guidance on the selection of test pieces for the evaluation of properties

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