NF ISO 14594 : 2007
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MICROBEAM ANALYSIS - ELECTRON PROBE MICROANALYSIS - GUIDELINES FOR THE DETERMINATION OF EXPERIMENTAL PARAMETERS FOR WAVELENGTH DISPERSIVE SPECTROSCOPY
12-01-2013
Avant-propos
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Abréviations
5 Paramètres expérimentaux
5.1 Généralités
5.2 Paramètres liés au faisceau primaire
5.3 Paramètres liés aux spectromètres à
dispersion de longueur d'onde
5.4 Paramètres liés à l'échantillon
6 Modes opératoires et mesures
6.1 Généralités
6.2 Courant de faisceau
6.3 Paramètres liés aux pics mesurés
6.4 Paramètres liés à l'échantillon
7 Rapport d'essai
Annexe A (informative) Méthodes d'estimation de
l'aire d'analyse
Annexe B (informative) Méthodes d'estimation de
la profondeur d'analyse
Annexe C (informative) Méthode d'estimation du
volume analysé par simulation de
Monte-Carlo (MC)
Bibliographie
La présente Norme internationale spécifie les lignes directrices générales pour déterminer les paramètres expérimentaux liés au faisceau primaire, au spectromètre à dispersion de longueur d'onde et à l'échantillon, paramètres qu'il faut prendre en compte lors de l'analyse par microsonde de Castaing. Elle définit également les modes opératoires pour déterminer le courant de faisceau, la densité de courant, le temps mort, la résolution en longueur d'onde, le fond continu, l'aire, la profondeur et le volume d'analyse. La présente Norme internationale concerne l'analyse d'un échantillon correctement poli sous incidence de faisceau normale; dans d'autres conditions expérimentales, les paramètres obtenus ne peuvent être qu'indicatifs. La présente Norme internationale ne concerne pas la spectrométrie de rayons X à sélection d'énergie.
DevelopmentNote |
Indice de classement: X21-002. (06/2007)
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DocumentType |
Standard
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PublisherName |
Association Francaise de Normalisation
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Status |
Current
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Standards | Relationship |
ISO 14594:2014 | Identical |
NF ISO 17470 : 2006 | MICROBEAM ANALYSIS - ELECTRON PROBE MICROANALYSIS - GUIDELINES FOR QUALITATIVE POINT ANALYSIS BY WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY SPECTROMETRY |
NF ISO 22489 : 2007 | MICROBEAM ANALYSIS - ELECTRON PROBE MICROANALYSIS - QUANTITATIVE POINT ANALYSIS FOR BULK SPECIMENS USING WAVELENGTH-DISPERSIVE X-RAY SPECTROSCOPY |
ISO/IEC Guide 25:1990 | General requirements for the competence of calibration and testing laboratories |
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