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NF ISO 17470 : 2006

Withdrawn

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A Withdrawn Standard is one, which is removed from sale, and its unique number can no longer be used. The Standard can be withdrawn and not replaced, or it can be withdrawn and replaced by a Standard with a different number.

MICROBEAM ANALYSIS - ELECTRON PROBE MICROANALYSIS - GUIDELINES FOR QUALITATIVE POINT ANALYSIS BY WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY SPECTROMETRY

Withdrawn date

30-08-2014

Published date

12-01-2013

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Avant-propos
Introduction
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Termes abrégés
5 Appareillage
6 Procédure d'identification
  6.1 Généralités
  6.2 Définition des conditions d'analyse
  6.3 Méthode d'analyse d'un spectre de rayons X
  6.4 Limite de détection
7 Rapport d'essai
Annexe A (informative) Exemple de procès-verbal
         d'analyse qualitative par microsonde
         de Castaing
Bibliographie

La présente Norme Internationale donne des recommandations pour l'identification des éléments et la recherche d'éléments particuliers présents dans un volume micrométrique spécifique d'un échantillon, par l'analyse des spectres de rayons X obtenus en utilisant des spectromètres à dispersion de longueur d'onde montés sur une microsonde de Castaing ou sur un microscope électronique à balayage.

DevelopmentNote
Indice de classement: X21-003 PR NF ISO 17470 April 2006. (04/2006)
DocumentType
Standard
PublisherName
Association Francaise de Normalisation
Status
Withdrawn

Standards Relationship
ISO 17470:2014 Identical

NF ISO 22489 : 2007 MICROBEAM ANALYSIS - ELECTRON PROBE MICROANALYSIS - QUANTITATIVE POINT ANALYSIS FOR BULK SPECIMENS USING WAVELENGTH-DISPERSIVE X-RAY SPECTROSCOPY

NF ISO 14594 : 2007 MICROBEAM ANALYSIS - ELECTRON PROBE MICROANALYSIS - GUIDELINES FOR THE DETERMINATION OF EXPERIMENTAL PARAMETERS FOR WAVELENGTH DISPERSIVE SPECTROSCOPY

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