NF ISO 18117 : 2009

Avant-propos
Introduction
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Symboles et abréviations
5 Explication de la structure de la présente Norme
   internationale
6 Exigences générales et classes d'échantillons
7 Facteurs ayant une influence sur les échantillons
   7.1 Informations relatives à l'échantillon nécessaires
       à l'analyste
   7.2 Historique
   7.3 Échantillons précédemment examinés par d'autres
       techniques analytiques
   7.4 Identification des échantillons
   7.5 Précautions
8 Sources de contamination des échantillons lors de la
   manipulation
9 Stockage et transfert de l'échantillon
   9.1 Stockage
       9.1.1 Durée
       9.1.2 Récipients
       9.1.3 Température et humidité
   9.2 Liste descriptive des récipients
10 Informations sur l'historique de l'échantillon
11 Formation du propriétaire de l'échantillon sur les
   procédures adaptées pour manipuler l'échantillon
Bibliographie

La présente Norme internationale fournit des lignes directrices relatives à la manipulation et aux récipients de stockage des échantillons avant l'analyse chimique des surfaces. Elle est destinée à aider l'utilisateur des services d'analyse des surfaces à comprendre les exigences de manipulation spéciales des techniques d'analyse chimique des surfaces, en particulier les suivantes: la spectroscopie des électrons Auger (AES), la spectroscopie de masse des ions secondaires (SIMS) et la spectroscopie de photoélectrons par rayons X (XPS ou ESCA). Les protocoles présentés peuvent également être appliqués à d'autres techniques d'analyse (TXRF, par exemple) sensibles à la composition des surfaces. Dans certains cas, pour des échantillons spécifiques, des précautions supplémentaires peuvent être requises.