NF ISO 23830 : 2009

Avant-propos
Introduction
1 Domaine d'application
2 Symboles et termes abrégés
3 Aperçu de la méthode
4 Méthode permettant de confirmer la répétabilité
  et la constance de l'échelle des intensités
  4.1 Obtention de l'échantillon de référence
  4.2 Préparation du montage de l'échantillon
  4.3 Montage de l'échantillon
  4.4 Choix des réglages du spectromètre pour lesquels
      la stabilité de l'intensité doit être déterminée
  4.5 Fonctionnement de l'instrument
  4.6 Mesurages de l'intensité et sa répétabilité
  4.7 Calcul de la répétabilité des intensités
  4.8 Mode opératoire de détermination régulière de la
      constance de l'échelle des intensités relatives
  4.9 Étalonnage suivant
Annexe A (informative) Exemples de conditions de
         fonctionnement appropriées pour la
         SIMS statique
Bibliographie

La présente Norme internationale spécifie une méthode permettant de confirmer la répétabilité et la constance de l'échelle des intensités relatives des ions positifs des spectromètres statiques de masse d'ions secondaires en vue d'une analyse générale. Elle ne s'applique qu'aux instruments qui comportent un canon à électrons pour la neutralisation de la charge. Elle n'est pas destinée à étalonner la fonction de réponse intensité/masse. Le fabricant de l'instrument ou un autre organisme peut procéder à cet étalonnage. La présente méthode fournit des données permettant de confirmer la constance des intensités relatives tout au long de l'utilisation de l'instrument. Elle donne des indications concernant certains réglages de l'instrument susceptibles d'avoir une incidence sur la constance.