NFX 43 21995 : 1995

Avant-propos
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Définitions
4 Principe de la méthode
5 Matériel
6 Réactifs
7 Préparation des échantillons pour analyse
8 Analyse de l'échantillon
9 Calculs et expression des résultats
10 Rapport d'essai
11 Bibliographie
Annexe A (normative) Étalonnage et réglage du dispositif à
         coupelle rotative
Annexe B (normative) Méthode de correction des effets de
         matrice
Annexe C (informative) Procédure de traitement d'un
         échantillon massif

Le présent document définit une méthode d'échantillonnage sur les lieux de travail pour la détermination par rayons X de la concentration de dépot alvéolaire de silice cristalline. La méthode fournit la concentration moyenne du dépot alvéolaire pendant la durée d'échantillonnage. Le présent document décrit une méthode d'échantillonnage sur les lieux de travail, à l'aide d'un dispositif à coupelle rotative (voir NF X 43-262), du dépot alvéolaire d'aérosols et le dosage, sur les particules collectées, de la silice cristalline. La méthode de dosage décrite repose sur la diffractométrie de rayons X et peut être appliquée à des échantillons de particules d'aérosols obtenus avec différents types d'échantillonneurs, ou à d'autres échantillons (voir 7.4). La méthode fournit la concentration moyenne du dépot alvéolaire pendant la durée de l'échantillonnage; elle ne peut s'appliquer au suivi en temps réel des variations de cette concentration, ni au dosage de la silice amorphe. Elle est applicable lorsque la concentration dans l'air des particules de la fraction conventionnelle alvéolaire de l'aérosol est supérieure à environ 10 macrogram .m-3 de silice cristalline, pour une durée d'échantillonnage de l'ordre de 6 h.