OVE/ONORM EN 60749-26 : 2014
Withdrawn
A Withdrawn Standard is one, which is removed from sale, and its unique number can no longer be used. The Standard can be withdrawn and not replaced, or it can be withdrawn and replaced by a Standard with a different number.
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 26: ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING - HUMAN BODY MODEL (HBM) (IEC 60749-26:2013)
Hardcopy
06-12-2018
German
12-01-2013
In diesem Teil der ÖVE/ÖNORM EN 60749 ist ein Standardverfahren festgelegt, um Halbleiterbauelemente hinsichtlich deren Empfindlichkeit auf Beschädigungen oder Degradationen (Leistungsminderungen) zu prüfen und zu klassifizieren, wenn diese Bauelemente mit einer elektrostatischen Entladung (ESD; en: electrostatic discharge) nach dem festgelegten Human-Body-Modell (HBM) beansprucht werden. Ziel ist es, zuverlässige und wiederholbare HBM-ESD-Prüfergebnisse für eine korrekte Klassifizierung zu erhalten. Dieses Prüfverfahren kann bei allen Halbleiterbauelementen angewandt werden und ist als zerstörend eingestuft. Die ESD-Prüfbeanspruchungen für Halbleiterbauelemente müssen entsprechend diesem Prüfverfahren oder dem Maschinen-Modell (MM; siehe ÖVE/ÖNORM EN 60749-27) oder anderen in der Reihe ÖVE/ÖNORM EN 60749 festgelegten ESD-Prüfverfahren gewählt werden. Sowohl das MM- als auch das HBM-Prüfverfahren liefern ähnliche, aber keine identischen Prüfergebnisse; falls nicht anders festgelegt, ist das HBM-Prüfverfahren zu verwenden. ANMERKUNG Bestimmte Abschnitte dieses Prüfverfahrens entsprechen denen von ÖVE/ÖNORM EN 61340-3-1.
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