OVE/ONORM EN 60749-30 : 2012
Superseded
A superseded Standard is one, which is fully replaced by another Standard, which is a new edition of the same Standard.
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SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 30: PRECONDITIONING OF NON-HERMETIC SURFACE MOUNT DEVICES PRIOR TO RELIABILITY TESTING (IEC 60749-30:2005 + A1:2011)
06-03-2023
12-01-2013
In diesem Teil der Norm ist ein Standardverfahren festgelegt, mit welchem die Vorbehandlung (Preconditioning) vor Zuverlässigkeitsprüfungen von nicht hermetisch verkappten oberflächenmontierbaren Bauelementen (SMD; en: surface mount device) bestimmt wird. In diesem Prüfverfahren ist der Ablauf der Vorbehandlungsprozedur für nicht hermetisch verkappte Halbleiter-SMD so festgelegt, dass er repräsentativ für eine industrieübliche Verarbeitung mit mehrfachen Reflowlötungen ist. Diese Halbleiter-SMD sollten einer entsprechenden Vorbehandlungssequenz nach dieser Norm unterzogen werden, bevor sie spezifischen unternehmensinternen Zuverlässigkeitsprüfungen (Qualifikationsprüfungen und/oder Zuverlässigkeits-Monitorprüfungen) vorgelegt werden, um die Langzeit-Zuverlässigkeit (welche durch das Reflowlöten beeinträchtigt wird) zu bewerten.
| DocumentType |
Standard
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| PublisherName |
Osterreichisches Normungsinstitut/Austrian Standards
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| Status |
Superseded
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| SupersededBy |
| Standards | Relationship |
| IEC 60749-30:2005+AMD1:2011 CSV | Identical |
| EN 60749-30 : 2005 AMD 1 2011 | Identical |
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