• UNI EN 13925-3 : 2005

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    NON-DESTRUCTIVE TESTING - X RAY DIFFRACTION FROM POLYCRYSTALLINE AND AMORPHOUS MATERIALS - PART 3: INSTRUMENTS

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    Published date:  29-11-2005

    Publisher:  Ente Nazionale Italiano di Unificazione (UNI)

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    Table of Contents - (Show below) - (Hide below)

    PREMESSA
    INTRODUZIONE
    1 SCOPO E CAMPO DI APPLICAZIONE
    2 RIFERIMENTI NORMATIVI
    3 TERMINI E DEFINIZIONI
    4 DESCRIZIONE DELL'ATTREZZATURA
      4.1 Generalità
      4.2 Sorgenti di raggi X
          4.2.1 Generalità
          4.2.2 Sorgenti di raggi X convenzionali (tubi
                sigillati e sorgenti ad anodo rotante)
          4.2.3 Sorgenti di radiazioni a sincrotrone
      4.3 Ottiche dei fasci di raggi X incidenti e diffratti
          4.3.1 Generalità
          4.3.2 Monocromatori
          4.3.3 Dimensioni e geometria del fascio
      4.4 Rivelatori
          4.4.1 Tipi di rivelatore
          4.4.2 Risoluzione spaziale dei rivelatori
          4.4.3 Risoluzione in energia dei rivelatori
      4.5 Goniometri
          4.5.1 Generalità
          4.5.2 Posizionamento del provino
      4.6 Porta provino
      4.7 Sistema di raccolta dati
    5 CARATTERIZZAZIONE DEI COMPONENTI DELL'ATTREZZATURA
    6 ALLINEAMENTO E TARATURA DELL'ATTREZZATURA
      6.1 Generalità
      6.2 Allineamento
      6.3 Taratura
    7 PROVA E MONITORAGGIO DELLE PRESTAZIONI
    APPENDICE A (informativa) - RELAZIONI TRA LE NORME XRPD
    APPENDICE B (informativa) - ALLINEAMENTO DEI DIFFRATTOMETRI
                DI BRAGG-BRENTANO
    APPENDICE C (informativa) - PROCEDURE PER LA CARATTERIZZAZIONE
                DELLE PRESTAZIONI DELLO STRUMENTO
          C.1 Generalità
          C.2 Posizione, intensità e ampiezza di un numero
              limitato di linee di diffrazione
          C.3 Curva di scostamento angolare
          C.4 Ampiezza della linea
          C.5 Diagrammi di intensità
          C.6 Curva di analisi della forma
          C.7 Parametri reticolari
          C.8 L'uso del metodo dei parametri fondamentali
          C.9 Interpolazione nel diffrattogramma intero
    APPENDICE D (informativa) - MODELLI TIPO DI RAPPORTO PER
                LA CARATTERIZZAZIONE DEGLI STRUMENTI
    BIBLIOGRAFIA

    Abstract - (Show below) - (Hide below)

    Defines the characteristics of instruments used for X-ray powder diffraction as a basis for their control and hence quality assurance of the measurements made by this technique.

    General Product Information - (Show below) - (Hide below)

    Committee CT 36
    Document Type Standard
    Publisher Ente Nazionale Italiano di Unificazione (UNI)
    Status Current

    Standards Referencing This Book - (Show below) - (Hide below)

    ISO 5725-1:1994 Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results — Part 1: General principles and definitions
    EN 13925-1:2003 Non-destructive testing - X-ray diffraction from polycrystalline and amorphous material - Part 1: General principles
    EN 13925-2:2003 Non-destructive testing - X-ray diffraction from polycrystalline and amorphous materials - Part 2: Procedures
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