VDE 0126-18-4-2 : 2007
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SOLARSCHEIBEN - TEIL 4-2: VERFAHREN ZUR MESSUNG DER ELEKTRISCHEN EIGENSCHAFTEN VON SILICIUMSCHEIBEN - MINORITAETSLADUNGSTRAEGERLEBENSDAUER, LABOR-MESSMETHODE
01-12-2009
12-01-2013
Vorwort
1 Anwendungsbereich
2 Normative Verweisungen
3 Begriffe
4 Bestimmung der Ladungsträgerlebensdauer
4.1 Allgemeines
4.2 Probenpräparation
4.3 Messparameter
5 Auswertung
6 Prüfbericht
Das Verfahren nach dieser Norm dient dazu, die effektive Lebensdauer von optisch erzeugten Überschussladungsträgern als effektive Minoritätsladungsträgerlebensdauer von kristallinen Siliciumscheiben zu bestimmen. Die Methode wird für Messungen in der Fertigungslinie (In-line) empfohlen.
| DocumentType |
Standard
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| PublisherName |
Verband Deutscher Elektrotechniker
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| Status |
Superseded
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| SupersededBy |
| Standards | Relationship |
| DIN V VDE V 0126-18-4-2 : 2007 | Identical |
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