VDE 0390-10 : 2007
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SUPERCONDUCTIVITY - CRITICAL TEMPERATURE MEASUREMENT - CRITICAL TEMPERATURE OF NB-TI-, NB[3]SN-, AND BI-SYSTEM OXIDE COMPOSITE SUPERCONDUCTORS BY A RESISTANCE METHOD
Hardcopy
German
01-05-2007
Vorwort
Einleitung
1 Anwendungsbereich
2 Normative Verweisungen
3 Begriffe
4 Bestimmung der kritischen Temperatur
5 Anforderungen
6 Messeinrichtung
7 Messungen
7.1 Montage der Probe
7.2 Durchführung der Messung
8 Bestimmung von T[c]
9 Genauigkeit und Stabilität
9.1 Temperatur
9.2 Spannung an der Probe
9.3 Strom in der Probe
10 Prüfbericht
10.1 Probe
10.2 Messbedingungen
10.3 Bericht über T[c]
Anhang A (informativ) Zusätzliche Informationen zur
Messung der kritischen Temperatur
A.1 Andere Definitionen der kritischen Temperatur
A.1.1 Messverfahren mit Widerstandskriterium
A.1.2 Modifiziertes Messverfahren mit
Widerstandskriterium
A.1.3 Messverfahren mit dem Kriterium für
10-%-Übergang
A.2 Verfahren zur Temperaturregelung bei kryogenen
Temperaturen
A.2.1 Verfahren mit Heizelement
A.2.2 Adiabatisches Verfahren
A.2.3 Verfahren mit Refrigerator (Kältemaschine)
A.2.4 Kaltgasverfahren
Anhang ZA (normativ) Normative Verweisungen auf
internationale Publikationen mit ihren
entsprechenden europäischen Publikationen
DocumentType |
Standard
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Pages |
0
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PublisherName |
Verband Deutscher Elektrotechniker
|
Status |
Current
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Standards | Relationship |
IEC 61788-10:2006 | Identical |
DIN EN 61788-10 : 2007 | Identical |
EN 61788-10:2006 | Identical |
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