VDI 4211 Blatt 1:2000-12

Vorbemerkung
Einleitung
1 Grundlagen des FTIR-Verfahrens
   1.1 Funktionsweise des klassischen
        Fourier-Transformations-Spektrometers
   1.2 Wichtige messtechnische Grössen des
        Fourier-Transformations-Spektrometers
        1.2.1 Dynamikbereich
        1.2.2 Spektrale Auflösung
        1.2.3 Apodisation
        1.2.4 Arbeitsbereich des IR-Detektors
2 Ausführungsformen der Messsysteme
   2.1 Interferometer nach dem Doppelpendelprinzip
   2.2 Interferometer mit nur einem rotierenden
        Retroreflektor für beide Interferometerarme
        und mit gefaltetem Strahlengang
3 Messanordnungen
4 Geräte und Betriebsmittel
   4.1 Geräte
        4.1.1 Sender
        4.1.2 Empfänger
        4.1.3 Kombinierte Sende-/Empfangseinheit
        4.1.4 Retroreflektoreinheit
        4.1.5 Steuer- und Auswerterechner des
              Fourier-Transformations-Spektrometers
   4.2 Zubehör
   4.3 Betriebsmittel
        4.3.1 Kühleinrichtung
        4.3.2 Stromversorgung
5 Durchführung der Messung
   5.1 Bedingungen zur Durchführung der Messung
   5.2 Durchführung
   5.3 Messprotokollierung
6 Kalibrierung
   6.1 Grundkalibrierung
        6.1.1 Experimentelles Verfahren
        6.1.2 Verwendung von Spektrallinien aus Datenbanken
              und Bestimmung der instrumentellen
              Linienprofilfunktion
   6.2 Kontrollkalibrierung und Funktionskontrolle
7 Auswertung
   7.1 Grundlagen der quantitativen Gasanalyse
        7.1.1 Infrarotspektren von Molekülen
        7.1.2 Das Lambert-Beer-Gesetz
        7.1.3 Die Grössen I[o](V) und I(V)
        7.1.4 Das Hintergrund-Referenzspektrum
   7.2 Qualitative und quantitative Analyse
        7.2.1 Wellenzahlkalibrierung
        7.2.2 Qualitative Analyse
        7.2.3 Quantitative Analyse
   7.3 Grössen mit Einfluss auf die Genauigkeit der
        quantitativen Analyse
8 Verfahrenskenngrössen
   8.1 Nachweisgrenze
        8.1.1 Bestimmung der Nachweisgrenze aus dem
              Vertrauensbereich der Kalibrierfunktion
        8.1.2 Bestimmung der Nachweisgrenze aus
              Leerwert-Messungen
   8.2 Wiederholbarkeit
   8.3 Genauigkeit
9 Querempfindlichkeiten und Störeinflüsse
   9.1 Gerätebedingte Störungen
   9.2 Auswertebedingte Störungen und Querempfindlichkeiten
   9.3 Störung der Messung durch meteorologische Ereignisse
10 Wartung
   10.1 Reinigung der Optik
   10.2 Spülung der Gehäuse mit reinem Stickstoff,
        Trockenpatronen
   10.3 Detektoren
   10.4 Zellen und Küvetten
Anhang A Musterformular für ein Messprotokoll
Anhang B Kalibrierung durch Verwendung von Spektrallinien
         aus Datenbanken und Bestimmung der instrumentellen
         Linienprofilfunktion
Anhang C Anwendungsbeispiele
Anhang D Symbole und Abkürzungen
Schrifttum