XP CEN ISO/TS 21432 : 2008 XP

Avant-propos
Introduction
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Symboles et abréviations
5 Résumé de la méthode
6 Préparation pour les mesurages
7 Caractérisation du matériau
8 Exigences d'enregistrement et mode opératoire de
   mesure
9 Calcul de la contrainte
10 Fiabilité des résultats
11 Rapport
Annexe A (informative) Modes opératoires de mesure
Annexe B (informative) Détermination des incertitudes
         dans un mesurande
Bibliographie

La présente Spécification technique fournit la méthode d'essai normalisée permettant de déterminer les contraintes résiduelles dans les matériaux polycristallins par diffraction de neutrons. Elle s'applique aux matériaux homogènes et non homogènes, ainsi qu'aux échantillons contenant plusieurs phases. Les principes de la technique de diffraction de neutrons sont exposés. Des conseils sont fournis concernant les plans réticulaires de diffraction qu'il convient d'utiliser pour effectuer les mesurages pour différentes catégories de matériaux. Des conseils sont aussi fournis au sujet des directions dans lesquelles il convient d'effectuer les mesurages et du volume de matériau qu'il convient d'examiner, lors des mesurages, en fonction de la grosseur du grain du matériau et de l'état de contrainte envisagé.