DIN EN 60747-16-10:2005-03
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SEMICONDUCTOR DEVICES - PART 16-10: TECHNOLOGY APPROVAL SCHEDULE (TAS) FOR MONOLITHIC MICROWAVE INTEGRATED CIRCUITS
Hardcopy , PDF
German
01-01-2005
Dieser Teil der IEC 60747 legt die Begriffe, Definitionen, Symbole, das Qualitätssicherungssystem, Prüfungen, Bewertungs- und Verifizierungsverfahren sowie weitere Anforderungen fest, die für die Entwicklung, Herstellung und Lieferung von monolithischen integrierten Mikrowellenschaltkreisen in Übereinstimmung mit den allgemeinen Anforderungen des IECQ-Systems für Bauelemente der Elektronik mit bewerteter Qualität zutreffen.
| DevelopmentNote |
Supersedes DIN IEC 60747-16-10 (03/2005)
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| DocumentType |
Standard
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| Pages |
56
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| PublisherName |
German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
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| Status |
Current
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| Supersedes |
| Standards | Relationship |
| IEC 60747-16-10:2004 | Identical |
| NF EN 60747-16-10 : 2005 | Identical |
| I.S. EN 60747-16-10:2004 | Identical |
| EN 60747-16-10:2004 | Identical |
| BS EN 60747-16-10:2004 | Identical |
| NBN EN 60747-16-10 : 2006 | Identical |
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