• DIN IEC 60749:1987-09

    Superseded A superseded Standard is one, which is fully replaced by another Standard, which is a new edition of the same Standard.

    SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS

    Available format(s): 

    Superseded date:  01-02-2000

    Language(s): 

    Published date:  12-01-2013

    Publisher:  German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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    Vorwort
    Einleitung
    Kapitel I: Allgemeines
    1 Anwendungsbereich und Zweck
    2 Zweck
    3 Begriffe und Kurzzeichen
    4 Normalklima
    5 Sichtprüfung und Kontrolle der Abmessungen
    6 Elektrische Messungen
    Kapitel II: Mechanische Prüfverfahren
    1 Mechanische Widerstandsfähigkeit der Anschlüsse
      1.1 Zug
      1.2 Biegen
      1.3 Verdrehen
      1.4 Drehmoment
    2 Löten
      2.1 Lötbarkeit
      2.2 Lötwärmebeständigkeit
    3 Schwingen (sinusförmig)
    4 Schocken
    5 Konstante Beschleunigung
    6 Prüfung der Kontaktfestigkeit
      6.1 Allgemeines
      6.2 Verfahren A und Verfahren B
      6.3 Verfahren C
      6.4 Verfahren D
      6.5 Verfahren E und Verfahren F
      6.6 Angaben in der jeweiligen Bauartspezifikation
    Anhang zum Abschnitt 6.2 Leitfaden
    Kapitel III: Klimatische Prüfverfahren
    1 Temperaturwechsel
      1.1 Rasche Temperaturwechsel: Zweikammerverfahren
      1.2 Rasche Temperaturwechsel: Zweibäderverfahren
    2 Lagerung (bei hoher Temperatur)
    3 Niedriger Luftdruck
    4 Feuchte Wärme, zyklisch
    5 Feuchte Wärme, konstant
    6 Kombinierte Prüfung Temperatur/Feuchte, zyklisch
    7 Dichtheit
      7.1 Abpr essen
      7.2 Eindringender Farbstoff
      7.3 Prüfung auf kleine Leckraten: Radioaktives
          Krypton-Verfahren
      7.4 Prüfung auf kleine Leckraten: Spürgasmethode
          mit dem Massenspektrometer
    8 Salznebel
    9 Prüfung auf thermische Unterbrechung
    Kapitel IV: Verschiedene Prüfverfahren
    1 Entflammbarkeit von Bauelementen in
      Kunststoffgehäusen
      1.1 Entflammbarkeit durch innere Einwirkung
      1.2 Entflammbarkeit durch äussere Einwirkung
          (in Beratung)
    2 Beständigkeit der Kennzeichnung

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    Development Note Supersedes DIN 41794-1 (07/2002)
    Document Type Standard
    Publisher German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
    Status Superseded
    Superseded By
    Supersedes

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    DIN EN 190103:1996-11 FAMILY SPECIFICATION - DIGITAL INTEGRATED TTL LOW POWER SCHOTTKY - CIRCUITS SERIES 54 LS, 64 LS, 74 LS, 84 LS
    DIN EN 165000-1:1996-11 FILM AND HYBRID INTEGRATED CIRCUITS - PART 1: GENERIC SPECIFICATION - CAPABILITY APPROVAL PROCEDURE
    DIN IEC 60747-3:1992-04 Semiconductor devices; discrete devices; part 3: signal diodes and regulator diodes; identical with IEC 60747-3:1985
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      Features

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      • Multi - user online standards collection: secure, flexibile and cost effective