NF ISO 22309 : 2012

Avant-propos
Introduction
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Préparation de l'échantillon
5 Précautions préliminaires
6 Méthode d'analyse
7 Traitement des données
  7.1 Généralités
  7.2 Identification des pics
  7.3 Estimation de l'intensité de pic
  7.4 Calcul des k-ratios
  7.5 Effets de matrice
  7.6 Utilisation de matériaux de référence
  7.7 Analyse sans témoin
  7.8 Incertitude des résultats
      7.8.1 Généralités
      7.8.2 Analyses de routine sur des échantillons
            dupliqués ou similaires
      7.8.3 Analyses spéciales
  7.9 Rapport d'analyse
Annexe A (informative) Identification des pics aux éléments
Annexe B (informative) Identification des pics/Interférences
Annexe C (informative) Facteurs influençant l'incertitude
         d'un résultat
Annexe D (informative) Analyses des éléments de nombre
         atomique inférieur à 11
Annexe E (informative) Exemple de données d'une étude de
         reproductibilité intralaboratoire et
         interlaboratoires
Bibliographie

La présente Norme internationale donne des indications sur l'analyse quantitative en des points ou des zones spécifiques d'un échantillon en utilisant la spectrométrie à sélection d'énergie (EDS) adaptée à un microscope électronique à balayage (MEB) ou à une microsonde de Casting (EPMA); toute expression de quantité, c'est-à-dire en termes de pourcentage (titre massique), en tant que quantités grandes/petites ou majoritaires/minoritaires, est considérée comme quantitative. L'identification correcte de tous les éléments présents dans l'échantillon est une étape nécessaire de l'analyse quantitative. En conséquence, elle est prise en compte dans la présente Norme internationale. La présente Norme internationale fournit des indications sur les différentes approches. Elle est applicable aux analyses quantitatives de routine de titres massiques jusqu'à 1%, en utilisant soit des matériaux de référence, soit des méthodes "sans témoin". Elle peut être utilisée de manière fiable pour les éléments de nombre atomique Z supérieur à 10. Des indications sur l'analyse des éléments légers de Z inférieur à 11 sont également données. Il n'existe aucune méthode admise permettant d'effectuer une analyse quantitative précise des éléments légers par EDS.