DIN EN 190100:1995-02

1 Anwendungsbereich
2 Allgemeines
  2.1 Bezugsschriftstücke
  2.2 Vorzugsspannungen für digitale monolithische
      Integrierte Schaltungen
  2.3 Symbole und Terminologie
3 Gütebestätigungsverfahren
  3.1 Strukturell ähnliche Schaltungen (siehe CECC
      90 000, Abschnitt 3.2)
  3.2 Bestätigte Prüfberichte
4 Prüf- und Messverfahren
  4.1 Elektrische Messverfahren (siehe CECC
      90 000, Abschnitte 4.1 und 4.5)
      4.1.1 Funktionsprüfung
      4.1.2 Messung von statischen Kennwerten
      4.1.3 Messung von dynamischen Kennwerten
      4.1.4 Ausgangs-Kurzschlussstrom
      4.1.5 Durchbruchsspannung
      4.1.6 Stromaufnahme
      4.1.7 Kapazität
      4.1.8 Leckstrom
      4.1.9 ESD-Prüfung
      4.1.10 Eingangsklemmspannung
  4.2 Elektrische Lebensdauerprüfung
      4.2.1 Allgemeines
      4.2.2 Prüfbedingungen
5 Bauartspezifikation für digitale monolithische
  Integrierte Schaltungen
  5.1 Einleitung
  5.2 Deckblatt
  5.3 Kennzeichnung des Bauelementes und zusätzliche
      Angaben
  5.4 Prüfanforderungen
      5.4.1 Erläuterung zu den Gütebestätigungsstufen
             P, Y und L
      5.4.2 Abkürzungen
      5.4.3 Prüfungen - Gruppe A
      5.4.4 Prüfungen - Gruppe B
      5.4.4 Prüfungen - Gruppe C
      5.4.6 Prüfungen - Gruppe D
  5.5 Anforderungen an die Untergruppen A3, A4 und A5
      5.5.1 Anforderungen für TTL-Schaltungen
             (fortgesetzt)
      5.5.2 Anforderungen an CMOS-Schaltungen

Gives ratings, characteristics and inspection requirements to be included as mandatory requirements in accordance with BS CECC 90100 in any detail specification for these devices.