• DIN IEC 60747-2:2001-02

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    SEMICONDUCTOR DEVICES - DISCRETE DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS - PART 2: RECTIFIER DIODES

    Available format(s):  Hardcopy, PDF

    Language(s):  German

    Published date:  01-01-2001

    Publisher:  German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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    Vorwort
    Einleitung
    1 Anwendungsbereich
    2 Normative Verweisungen
    3 Begriffe
      3.1 Allgemeine Begriffe
      3.2 Begriffe im Zusammenhang mit Bemessungs- und
           Kennwerten: Spannungen
      3.3 Begriffe im Zusammenhang mit Bemessungs- und
           Kennwerten: Ströme
      3.4 Begriffe im Zusammenhang mit Bemessungs- und
           Kennwerten: Verlustleistungen
      3.5 Begriffe im Zusammenhang mit Bemessungs- und
           Kennwerten: Sonstige Kennwerte
    4 Kurzzeichen
      4.1 Allgemeines
      4.2 Zusätzliche allgemeine Indizes
           4.2.1 Für Ströme, Spannungen und Leistungen
           4.2.2 Für elektrische Parameter
      4.3 Liste der Kurzzeichen
           4.3.1 Spannungen
           4.3.2 Ströme
           4.3.3 Leistungen
           4.3.4 Schaltverhalten
    5 Wesentliche Bemessungs- und Kennwerte
      5.1 Allgemeines
           5.1.1 Anwendungsbereich
           5.1.2 Verfahren für die Angabe der Bemessungswerte
           5.1.3 Empfohlene Temperaturen
      5.2 Bedingungen für Bemessungswerte
           5.2.1 Umgebungsbezogene Gleichrichterdioden
           5.2.2 Gehäusebezogene Gleichrichterdioden
      5.3 Bemessungswerte für Spannung und Strom (Grenzwerte)
           5.3.1 Nicht-periodische Spitzensperr spannung
                  (U[RSM])
           5.3.2 Periodische Spitzensperrspannung (U[RRM])
           5.3.3 Scheitelsperrspannung (U[RWM])
           5.3.4 Gleichsperrspannung (U[R]) (falls erforderlich)
           5.3.5 Dauergrenzstrom (I[FAV])
           5.3.6 Periodischer Spitzen-Durchlassstrom (I[FRM])
                  (falls erforderlich) (besonders bei
                  schnellschaltenden Dioden)
           5.3.7 Überlast-Durchlassstrom (I ([0V]))
           5.3.8 Stossstrom-Grenzwert (I[FSM])
           5.3.9 Durchlass-Gleichstrom (I[F])
           5.3.10 Gehäusebruchstrom zerstörender Spitzenstrom
                  (I[RSMC])
      5.4 Frequenz-Bemessungswerte (Grenzwerte)
      5.5 Verlustleistungs-Bemessungswerte
           5.5.1 Stoss-Sperrverlustleistung (für
                  Lawinen-Gleichrichterdioden und solche mit
                  eingegrenztem Durchbruchbereich)
           5.5.2 Periodische Spitzen-Sperrverlustleistung (für
                  Lawinen-Gleichrichterdioden mit eingegrenztem
                  Durchbruchbereich)
           5.5.3 Mittlere Sperrverlustleistung (für
                  Lawinen-Gleichrichterdioden mit eingegrenztem
                  Durchbruchbereich)
      5.6 Temperatur-Bemessungswerte (Grenzwerte)
           5.6.1 Kühlmittel- (T[a]) oder Bezugspunkttemperaturen
                  (T[ref]) (für umgebungsbezogene oder
                  gehäusebezogene Gleichrichterdioden)
           5.6.2 Lagerungstemperaturen (T[stg])
           5.6.3 Ersatzsperrschichttemperatur (T[vj]) (falls
                  erforderlich)
      5.7 Elektrische Kennwerte
           5.7.1 Durchlasskennwerte (falls erforderlich)
           5.7.2 Durchlassspannung (unter thermischen
                  Gleichgewichtsbedingungen)
           5.7.3 Durchbruchspannung (U[BR]) (einer
                  Lawinen-Gleichrichterdiode, für nicht-periodische
                  Anwendung)
           5.7.4 Periodischer Spitzensperrstrom (I[RM])
           5.7.5 Gesamtverlustleistung (P[tot])
           5.7.6 Höchste Gesamtenergie für einen
                  Durchlassstromimpuls in Form einer
                  Sinus-Halbschwingung (falls erforderlich)
                  (speziell für schnell schaltende Dioden)
           5.7.7 Sperrverzögerungsladung (Q[r]) (falls
                  erforderlich)
           5.7.8 Rückstromspitze (I[RM]) (falls erforderlich)
           5.7.9 Sperrverzögerungszeit (t[rr]) (falls
                  erforderlich)
           5.7.10 Durchlassverzögerungszeit (t[fr]) (falls
                  erforderlich)
           5.7.11 Spitzen-Durchlassverzögerungsspannung (U[FRM])
                  (falls erforderlich)
           5.7.12 Abklingsanftheit (F[RRs]) (falls erforderlich)
      5.8 Thermische Kennwerte (falls erforderlich)
           5.8.1 Transienter Wärmewiderstand (Z[th](t))
      5.9 Mechanische Kennwerte und andere Daten
      5.10 Anwendungsdaten
           5.10.1 Betrieb im eingeschwungenen Zustand
                  (einschliesslich Überlast)
           5.10.2 Transiente Bedingungen
    6 Anforderungen an Typprüfungen und Stückprüfungen;
      Aufschriften auf Gleichrichterdioden
      6.1 Typprüfungen
      6.2 Stückprüfungen
      6.3 Mess- und Prüfverfahren
      6.4 Aufschriften auf Gleichrichterdioden
    7 Mess- und Prüfverfahren
      7.1 Messverfahren für elektrische Kennwerte
           7.1.1 Allgemeine Regeln
           7.1.2 Durchlassspannung
           7.1.3 Durchbruchspannung (U([BR])) von
                  Lawinen-Gleichrichterdioden und solchen mit
                  eingegrenztem Durchbruchbereich
           7.1.4 Sperrstrom
           7.1.5 Sperrverzögerungsladung und Sperrverzögerungszeit
                  (Q[r], t[rr])
           7.1.6 Durchlassverzögerungszeit (t[fr]) und
                  Spitzen-Durchlassverzögerungsspannung(U[FRM])
      7.2 Messverfahren für thermische Kennwerte
           7.2.1 Bezugspunkttemperatur
           7.2.2 Wärmewiderstand und transienter Wärmewiderstand
      7.3 Prüfverfahren zur Überprüfung von Bemessungswerten
           (Grenzwerten)
           7.3.1 Stossstrom
           7.3.2 Nicht-periodische Spitzensperrspannung(U[RSM])
           7.3.3 Spitzensperrverlustleistung (periodisch oder
                 nicht-periodisch) (P[RRM], P[RSM]) von
                 Lawinen-Gleichrichterdioden und solchen mit
                 eingegrenztem Durchbruchbereich
           7.3.4 Gehäusebruchstrom
      7.4 Dauerprüfung
           7.4.1 Verzeichnis der Dauerprüfungen
           7.4.2 Bedingungen für Dauerprüfungen
           7.4.3 Ausfallkriterien und Merkmale für
                  Annahmeprüfungen
           7.4.4 Merkmale und Ausfallkriterien für
                  Zuverlässigkeitsprüfungen
           7.4.5 Vorgehen im Falle eines Prüffehlers
           7.4.6 Prüfung mit thermischen Lastwechseln
    Anhang A (informativ) Berechnung der Erwärmung bei zeitlich
             veränderlicher Belastung

    Abstract - (Show below) - (Hide below)

    Die vorliegende Norm enthält Festlegungen für die nachfolgenden Bauelemente-Gruppen und Untergruppen. Gleichrichterdioden, einschliesslich: - Lawinen - Gleichrichterdioden; - Lawinen - Gleichrichterdioden mit eingegrenztem Durchbruchbereich; - schnell schaltende Gleichrichterdioden.

    General Product Information - (Show below) - (Hide below)

    Development Note Supersedes DIN 41782, DIN 41783 and DIN 41794-8 (07/2002)
    Document Type Standard
    Publisher German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
    Status Current
    Supersedes

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    IEC 60747-1:2006+AMD1:2010 CSV Semiconductor devices - Part 1: General
    DIN IEC 60747-1:1987-03 SEMICONDUCTOR DEVICES; DISCRETE DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS; GENERAL
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