DIN IEC 60747-5:1988-12
Superseded
A superseded Standard is one, which is fully replaced by another Standard, which is a new edition of the same Standard.
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SEMICONDUCTOR DEVICES - DISCRETE DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS - PART 5: OPTOELECTRONIC DEVICES
01-04-2002
12-01-2013
Vorwort
Einführung
Kapitel I: Allgemeines
1 Vorbemerkung
2 Anwendungsbereich
Kapitel II: Begriffe und Kurzzeichen
1 Arten von Bauelementen
2 Begriffe im Zusammenhang mit Grenz- und Kennwerten
3 Kurzzeichen
Kapitel III: Wesentliche Grenz- und Kennwerte
Hauptabschnitt 1: Leuchtdioden
1 Typ
2 Halbleitermaterial
3 Farbe
4 Gehäusezeichnung und Umhüllung
5 Grenzwerte (System der absoluten Grenzwerte)
über den gesamten Betriebstemperaturbereich,
wenn nicht anders angegeben
6 Elektrische Kennwerte
7 Zusätzliche Angaben
8 Angaben zu Umwelt- und/oder Lebensdauerprüfungen
Hauptabschnitt 2: Infrarotemittierende Dioden
1 Typ
2 Halbleitermaterial
3 Gehäusezeichnung und Umhüllung
4 Grenzwerte (System der absoluten Grenzwerte)
über den gesamten Betriebstemperaturbereich,
wenn nicht anders angegen
5 Elektrische Kennwerte
6 Zusätzliche Angaben
7 Angaben zu Umwelt- und/oder Lebensdauerprüfungen
Inhalt (Fortsetzung)
Hauptabschnitt 3: Photodioden
1 Typ
2 Halbleitermaterial
3 Gehäusezeichnung und Umhüllung
4 Grenzwerte (System der absoluten Grenzwerte)
über den gesamten Betriebstemperaturbereich,
wenn nicht anders angegeben
5 Elektrische Kennwerte
6 Zusätzliche Angaben
7 Angaben zu Umwelt- und/oder Lebensdauerprüfungen
Hauptabschnitt 4: Phototransistoren
1 Typ
2 Halbleitermaterial
3 Polarität
4 Gehäusezeichnung und Umhüllung
5 Grenzwerte (System der absoluten Grenzwerte)
über den gesamten Betriebstemperaturbereich,
wenn nicht anders angegeben
6 Elektrische Kennwerte
7 Zusätzliche Angaben
8 Angaben zu Umwelt- und/oder Lebensdauerprüfungen
Hauptabschnitt 5: Optokoppler (mit Ausgangstransistor)
1 Typ
2 Halbleitermaterial
3 Polarität des Ausgangstransistors
4 Gehäusezeichnung und Umhüllung
5 Grenzwerte (System der absoluten Grenzwerte)
über den gesamten Betriebstemperaturbereich,
wenn nicht anders angegeben
6 Elektrische Kennwerte
7 Zusätzliche Kennwerte
Kapitel IV: Messverfahren
1 Messverfahren für optoelektronische Sender
1.1 Lichtstärke von Leuchtdioden
1.2 Strahlstärke von infrarotemittierenden Dioden
1.3 Strahlungsfluss
1.4 Wellenlänge der maximalen Emission
(lambda[p]) und spektrale Strahlungsbandbreite
(delta[lambda])
2 Messverfahren für photoempfindliche Bauelemente
2.1 Strom von Photodioden unter Bestrahlung und
Kollektorstrom von Phototransistoren unter
Bestrahlung
3 Messverfahren für Optokoppler
3.1 Gleichstrom-Koppelfaktor
3.2 Koppelkapazität
3.3 Isolationswiderstand
3.4 Isolationsprüfung
Gives standards for the following categories or sub-categories of devices: - semiconductor photoemitters; - semiconductor photosensitive devices; - photocouplers, optocouplers.
| DevelopmentNote |
Supersedes DIN 41791-12, -13, -14, DIN 44020-1, DIN 44021-1, DIN 44028-3 and DIN 44028-4. (07/2002)
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| DocumentType |
Standard
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| PublisherName |
German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
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| Status |
Superseded
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| SupersededBy | |
| Supersedes |
| Standards | Relationship |
| IEC 60747-5:1992 | Identical |
| DIN 58960-2:1997-05 | PHOTOMETERS FOR ANALYTICAL TESTS; TECHNICAL DESIGN, CLASSIFICATION, COMPONENTS, CONCEPTS |
| IEC 60068-1:2013 | Environmental testing - Part 1: General and guidance |
| IEC 60306-1:1969 | Measurement of photosensitive devices - Part 1: Basic recommendations |
| IEC 60747-1:2006+AMD1:2010 CSV | Semiconductor devices - Part 1: General |
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