NF EN 60444-5 : 2001

Avant-propos
1 Domaine d'application
2 Introduction
  2.1 Généralités
  2.2 Méthodes de mesure de l'admittance
  2.3 Analyse de l'admittance et évaluation des
       paramètres du circuit équivalent
  2.4 Références normatives
3 Méthodes de mesure
  3.1 Généralités
  3.2 Controle de l'environnement
  3.3 Etalonnage
  3.4 Niveau d'excitation
  3.5 Mesures de C
  3.6 Choix des fréquences de mesure
  3.7 Collecte des données
  3.8 Correction des données
  3.9 Calcul de l'admittance
  3.10 Analyse de l'admittance et évaluation des
       paramètres du circuit équivalent
4 Choix de la méthode de mesure de l'admittance
  4.1 Généralités
  4.2 Avantages et inconvénients de la méthode des
       paramètres S de réflexion à une porte
  4.3 Avantages et inconvénients de la méthode des
       paramètres S de transmissions à deux portes
  4.4 Avantages et inconvénients de la méthode de
       transmission directe
5 Techniques d'étalonnage
  5.1 Méthode des paramètres S
  5.2 Méthode de transmission directe
  5.3 Vérification de l'étalonnage
6 Mesures des basses fréquences
7 Analyse de l'admittance et évaluation des paramètres
  du circuit équivalent
  7.1 Méthode générale d'ajustement des moindres carrés
  7.2 Méthode linéaire d'ajustement des moindres carrés
  7.3 Méthode d'ajustement de cercle
  7.4 Méthode d'itération à deux points
8 Erreurs de mesure, instruments et montages d'essai
  8.1 Commentaires généraux
  8.2 Conditions de mesure
  8.3 Reproductibilité
  8.4 Mesures et montage d'essai
Figures
Annexe A (normative) Etalonnage
Annexe B (informative) Mesure des basses fréquences
Annexe C (informative) Bibliographie
Annexe ZA (normative) Références normatives à
                       d'autres publications
                       internationales avec les
                       publications européennes
                       correspondantes

Establishes methods for the determination of the best representations of modes in quartz crystal resonators using linear equivalent circuits.