NF EN 61967-6 : 2003 AMD 1 2008
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INTEGRATED CIRCUITS - MEASUREMENT OF ELECTROMAGNETIC EMISSIONS, 150 KHZ - 1 GHZ - PART 6: MEASUREMENT OF CONDUCTED EMISSIONS - MAGNETIC PROBE METHOD
12-01-2013
AVANT-PROPOS
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Définitions
4 Généralités
4.1 Philosophie de la mesure
4.2 Principe de mesure
5 Conditions d'essai
5.1 Généralités
5.2 Gamme de fréquences
6 Équipement d'essai
6.1 Généralités
6.2 Sonde magnétique
6.3 Fixation et placement de la sonde
7 Montage d'essai
7.1 Généralités
7.2 Étalonnage de la sonde
7.3 Modifications de la carte d'essai CI normalisée
8 Procédure d'essai
8.1 Généralités
8.2 Technique d'essai
9 Rapport d'essai
9.1 Généralités
9.2 Documentation
Annexe A (normative) Procédure d'étalonnage de la sonde
- Méthode de la ligne microruban
Annexe B (informative) Principe de mesure et facteur
d'étalonnage
Annexe C (informative) Résolution spatiale de la sonde
magnétique
Annexe D (informative) Structure d'angle pour placement de
la sonde
Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres
publications internationales avec les
publications européennes
correspondantes
Bibliographie
Gives a method for evaluating RF currents on the pins of an integrated circuit (IC) by means on non-contact current measurement using a miniature magnetic probe.
| DevelopmentNote |
Indice de classement: C96-260-6. (02/2003)
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| DocumentType |
Standard
|
| PublisherName |
Association Francaise de Normalisation
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| Status |
Current
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| Standards | Relationship |
| DIN EN 61967-6:2008-10 | Identical |
| EN 61967-6:2002/A1:2008 | Identical |
| I.S. EN 61967-6:2003 | Identical |
| BS EN 61967-6 : 2002 | Identical |
| IEC 61967-6:2002+AMD1:2008 CSV | Identical |
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