NF EN 62132-3 : 2008

AVANT-PROPOS
1 Domaine d'application et objet
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Généralités
5 Conditions d'essai
  5.1 Généralités
Figure 1 - Trajet du courant principal lors de l'utilisation
           du BCI
  5.2 Matériel d'essai
Figure 2 - Schéma du montage d'essai BCI
  5.3 Carte d'essai
Figure 3 - Exemple de carte d'essai, vue de dessus
6 Modalités d'essai
  6.1 Champs électromagnétiques dangereux
  6.2 Etalonnage de la limitation de puissance directe
  6.3 Essai BCI
Figure 4 - Montage d'étalonnage
  6.4 Procédure de caractérisation du dispositif d'essai BCI
Figure 5 - Logigramme de la procédure d'essai BCI pour
           chaque échelon de fréquence
Figure 6 - Montage d'essai de validation d'impédance
7 Rapport d'essai
Annexe A (informative) Exemples de niveaux d'essai et
         de choix de pas de fréquence
Tableau A.1 - Niveaux de sévérité d'essai
Tableau A.2 - Pas de fréquence linéaires
Tableau A.3 - Pas de fréquence logarithmiques
Annexe B (informative) Exemple de carte d'essai BCI
         et mise en oeuvre
Figure B.1 - Vue générale
Figure B.2 - Exemple de vue de dessus de la carte d'essai
Figure B.3 - Assemblage de carte d'essai
Figure B.4 - Carte d'essai et montage en cuivre
Figure B.5 - Exemple de montage de support de pinces non
             conducteur
Annexe C (informative) Exemple de carte d'essai RF et
         mise en oeuvre
Figure C.1 - Couplage RF compact aux accès différentiels
             du CI
Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres
          publications internationales avec les publications
          européennes correspondantes
Bibliographie

Explains a bulk current injection (BCI) test method to measure the immunity of integrated circuits (IC) in the presence of conducted RF disturbances, e.g. resulting from radiated RF disturbances.