• NF EN 62132-3 : 2008

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    INTEGRATED CIRCUITS - MEASUREMENT OF ELECTROMAGNETIC IMMUNITY, 150 KHZ TO 1 GHZ - PART 3: BULK CURRENT INJECTION (BCI) METHOD

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    Published date:  12-01-2013

    Publisher:  Association Francaise de Normalisation

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    Table of Contents - (Show below) - (Hide below)

    AVANT-PROPOS
    1 Domaine d'application et objet
    2 Références normatives
    3 Termes et définitions
    4 Généralités
    5 Conditions d'essai
      5.1 Généralités
    Figure 1 - Trajet du courant principal lors de l'utilisation
               du BCI
      5.2 Matériel d'essai
    Figure 2 - Schéma du montage d'essai BCI
      5.3 Carte d'essai
    Figure 3 - Exemple de carte d'essai, vue de dessus
    6 Modalités d'essai
      6.1 Champs électromagnétiques dangereux
      6.2 Etalonnage de la limitation de puissance directe
      6.3 Essai BCI
    Figure 4 - Montage d'étalonnage
      6.4 Procédure de caractérisation du dispositif d'essai BCI
    Figure 5 - Logigramme de la procédure d'essai BCI pour
               chaque échelon de fréquence
    Figure 6 - Montage d'essai de validation d'impédance
    7 Rapport d'essai
    Annexe A (informative) Exemples de niveaux d'essai et
             de choix de pas de fréquence
    Tableau A.1 - Niveaux de sévérité d'essai
    Tableau A.2 - Pas de fréquence linéaires
    Tableau A.3 - Pas de fréquence logarithmiques
    Annexe B (informative) Exemple de carte d'essai BCI
             et mise en oeuvre
    Figure B.1 - Vue générale
    Figure B.2 - Exemple de vue de dessus de la carte d'essai
    Figure B.3 - Assemblage de carte d'essai
    Figure B.4 - Carte d'essai et montage en cuivre
    Figure B.5 - Exemple de montage de support de pinces non
                 conducteur
    Annexe C (informative) Exemple de carte d'essai RF et
             mise en oeuvre
    Figure C.1 - Couplage RF compact aux accès différentiels
                 du CI
    Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres
              publications internationales avec les publications
              européennes correspondantes
    Bibliographie

    Abstract - (Show below) - (Hide below)

    Explains a bulk current injection (BCI) test method to measure the immunity of integrated circuits (IC) in the presence of conducted RF disturbances, e.g. resulting from radiated RF disturbances.

    General Product Information - (Show below) - (Hide below)

    Development Note Indice de classement: C96-261-3. PR NF EN 62132-3 March 2006. (03/2006)
    Document Type Standard
    Publisher Association Francaise de Normalisation
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