NF EN 60749-35 : 2006
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SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 35: ACOUSTIC MICROSCOPY FOR PLASTIC ENCAPSULATED ELECTRONIC COMPONENTS
12-01-2013
AVANT-PROPOS
1 Domaine d'application
2 Termes et définitions
3 Appareillage d'essai
3.1 Système de microscope acoustique à réflexion
3.2 Système de microscope acoustique par transmission
3.3 Boîtiers ou normes de référence
3.4 Porte-échantillon
4 Procédure
4.1 Généralités
4.2 Montage du matériel
4.3 Performance des balayages acoustiques
Annexe A (informative) Feuille de controle de microscopie
acoustique (exemple uniquement - n'est pas un
modèle obligatoire)
Annexe B (informative) Pièges potentiels de l'image
Annexe C (informative) Limitations de la microscopie
acoustique
Annexe D (informative) Liste de controle de référence
pour la présentation des données balayées
applicables
Bibliographie
Defines the procedures for performing acoustic microscopy on plastic encapsulated electronic components.
| DevelopmentNote |
Indice de classement: C96-022-35 PR NF EN 60749-35 October 2005. (10/2005)
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| DocumentType |
Standard
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| PublisherName |
Association Francaise de Normalisation
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| Status |
Current
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| Standards | Relationship |
| DIN EN 60749-35:2007-03 | Identical |
| I.S. EN 60749-35:2006 | Identical |
| EN 60749-35:2006 | Identical |
| IEC 60749-35:2006 | Identical |
| BS EN 60749-35:2006 | Identical |
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